Difractómetro de DRX con ánodo giratorio θ/θ

Medición de difracción, reflectividad y SAXS

PDXL es un software suite omnifuncional de análisis de difracción por polvo. El diseño modular, su motor avanzado y la GUI (interfaz gráfica de usuario) fácil de usar, han sido de la satisfacción de los usuarios experimentados y novatos desde el lanzamiento de PDXL en 2007.

PDXL ofrece diversas herramientas de análisis tales como la identificación automática de fase, el análisis cuantitativo, el análisis del tamaño de los cristalitos, red constante de refinamiento, análisis de Rietveld, determinación de la estructura ab initio, etc.

Método de parámetros fundamentales

La forma de pico en un patrón de difracción por polvo parece ser una función delta si se mide bajo condiciones ideales. En realidad, los cambios en la forma de pico se dan dependiendo de un número de condiciones de medición: distribución de longitud de onda de la fuente, los sistemas ópticos, las condiciones de hendidura, el tamaño de los cristalitos y la tensión, y así sucesivamente. Las formas de los picos obtenidos a partir de las mediciones realizadas en condiciones reales se describen utilizando una función empírica como una función de partición pseudo-Voigt, o una partición Pearson VII, la función que tiene un buen acuerdo con las formas de los picos obtenidos. El método parámetro fundamental (método PF) es un método para calcular la forma de pico por convolución de las formas causadas por todas las condiciones instrumentales y la muestra.

Fase de identificación usando COD

La Crystallography Open Database (COD) es una base de datos gratis y de dominio público de las estructuras cristalinas publicadas por la Unión Internacional de Cristalografía, la Sociedad Mineralógica de América y otras asociaciones. PDXL puede incorporar tanto ICDD/PDF-2 y COD para llevar a cabo la fase de identificación automática, adicionando la biblioteca DQO con más de 150,000 estructuras cristalinas a las ya capacidades substanciales de PDXL 2.
Asistente para el análisis de estructura cristalina ab initio
Recientemente, han habido muchos ejemplos publicados de análisis de estructura cristalina ab initio realizados en datos de difracción por polvo. Este desarrollo se atribuye principalmente a mejoras significativas en la velocidad del procesamiento de las PC y en la eficiencia de los algoritmos utilizados para la determinación de la estructura.

PDXL ha proporcionado hasta ahora todas las funciones requeridas para el análisis de estructura cristalina ab initio, tales como la determinación de la estructura de indexación, y el refinamiento de estructura por el método de Rietveld. Ahora, “el asistente para análisis de estructura” está disponible en PDXL para proporcionar apoyo y orientación a los usuarios que realizan el complicado procedimiento de análisis de estructura, en particular de los compuestos orgánicos. Este sistema asistente hace posible que incluso los principiantes puedan obtener éxitos de análisis.

Función de agrupamiento
La característica de agrupamiento PDXL puede agrupar los datos de varios análisis basados en similitud de los patrones de difracción por polvo y las posiciones de los picos, y muestra los datos agrupados en un árbol fácil de leer. Esto es particularmente efectivo cuando se trata de la clasificación y la detección de los datos de un gran número de exploraciones.

  • Análisis de búsqueda/coincidencia con PDF-2 y la base de datos Cristalografía Abierta (Open Cristalografía)
  • Análisis cuantitativo
  • Porcentaje (%) de cristalinidad
  • Tensión y tamaño del cristalito
  • Perfeccionamiento celular
  • Tensión residual
  • Indexación
  • Perfil completo de patrón de ajuste
  • La estructura de solución ab initio con asistente