Refinamientos Rietveld de un pedazo de roca como-obtenida

Se presentan los resultados de los refinamientos Rietveld usando el sistema de Rigaku Ultima IV para la difracción multipropósito, los cuales fueron obtenidos de una muestra de pedazo de roca (Figuras 1 y 2) compuestas de seis fases minerales. Los datos Difracción de Rayos X (DRX o XRD) fueron recopilados mediante geometrías paralelas y de haz para-foco.

Como se puede ver en la figura 3, la muestra de roca tiene una superficie altamente irregular que causa que los datos del haz de enfoque tengan posiciones de pico imprecisas, e intensidades más bajas de lo esperado. Las posiciones de los picos desplazados generalmente surgen de un número de errores de desplazamiento asociados con la morfología de la muestra. La aspereza, transparencia, y curvatura contribuyen al error.

El uso de geometría de haz paralelo completamente elimina estos errores, ya que no es necesario enfocar la muestra. Los datos de haz paralele proporcionan posiciones de pico precisas y mejores intensidades, como visto en la Figura 3. Los resultados comparativos del refinamiento Rietveld son presentados en la Figura 4 y la Tabla 1. Se puede ver que se obtuvieron mejores resultados con los datos de haz paralelo.