Refinamientos Rietveld de un pedazo de roca como-obtenida

Se presentan los resultados de los refinamientos Rietveld usando el sistema de Rigaku Ultima IV para la difracción multipropósito, los cuales fueron obtenidos de una muestra de pedazo de roca (Figuras 1 y 2) compuestas de seis fases minerales. Los datos Difracción de Rayos X (DRX o XRD) fueron recopilados mediante geometrías paralelas y de haz para-foco.

as-obtained rock chunk sample

Figura 1: Muestra de pedazo de roca como-obtenida

rock chunk sample mounted

Figure a: Muestra de pedazo de roca montada en un drifractómetro Ultima IV

Como se puede ver en la figura 3, la muestra de roca tiene una superficie altamente irregular que causa que los datos del haz de enfoque tengan posiciones de pico imprecisas, e intensidades más bajas de lo esperado. Las posiciones de los picos desplazados generalmente surgen de un número de errores de desplazamiento asociados con la morfología de la muestra. La aspereza, transparencia, y curvatura contribuyen al error.

Surface of rock sample

Figura 3: Datos obtenidos en modo paralelo (PB) y para-foco (BB) en el pedazo de roca. Las áreas con zoom e insertos demuestran que los datos PB (negro) tienen posiciones de picos mas precisas y mejores intensidades que los datos BB (naranja).

El uso de geometría de haz paralelo completamente elimina estos errores, ya que no es necesario enfocar la muestra. Los datos de haz paralele proporcionan posiciones de pico precisas y mejores intensidades, como visto en la Figura 3. Los resultados comparativos del refinamiento Rietveld son presentados en la Figura 4 y la Tabla 1. Se puede ver que se obtuvieron mejores resultados con los datos de haz paralelo.

Parallel beam data

Figura 4: Identificación de fase y refinamiento Rietveld en datos PB y BB de la muestra de pedazo de roca.

Rietveld refinement

ultimaUltima IV representa el sistema estado del arte dentro de los sistemas multiuso de difracción de rayos X (DRX o XRD). Incorporando la tecnología patentada de la óptica transversal del haz (CBO) de Rigaku para instalarse y alinearse permanentemente, y permitir enfoque de geometrías y paralelos seleccionables por el usuario; el difractómetro de rayos X Ultima IV puede realizar muchas mediciones diferentes ... rápidamente... Read more about Rigaku's Ultima IV...