Medición de trazas de componentes amorfos en materiales de fármacos en bruto

Las sustancias amorfas son más inestables que las substancias cristalinas; así que se transfieren a la forma cristalina fácilmente debido a varias causas externas. En los productos farmacéuticos, se sabe bien que las diferencias en los grados de cristalización de fármacos afectan la estabilidad química y física, y resolubilidad más que el polimorfismo cristalino de la substancia. Por este motivo, es necesario evaluar los componentes amorfos de los fármacos cuantitativamente.

La difracción de rayos X y el análisis térmico (método de medición de corrientes estimuladas térmicamente) están disponibles como métodos de cuantificación de substancias amorfas en substancias cristalinas. El análisis cuantitativo de substancias amorfas de concentración baja puede ser realizado mediante la relación entre la intensidad de pico generada por el componente cristalino y la intensidad hueca generada por el componente amorfo en la difracción de rayos X, y por el espectro de despolarización que acompaña la transformación cristalina de la substancia amorfa en el método de medición mediante corrientes estimuladas térmicamente, respectivamente.

La terfenadina, la cual ha sido usada como agente anti-alergénico, se hace amorfa bajo presión. Usando una trituradora por 30 minutos, se hizo una muestra de polvo de terfenadina para generar una muestra de referencia con un grado de cristalinidad asumido al 0%. Se mezcló la muestra en polvo con una muestra no triturada para crear una muestra con un porcentaje de cristalinidad arbitrario.

La Figura 1 presenta los perfiles y curvas de calibración obtenidas de las medidas de difracción de rayos X hechas con el sistema Rigaku para la difracción multipropósito. La Figura 2 muestra los perfiles superpuestos y la curva de calibración obtenida con el método de medición de corriente estimulada térmicamente. Como resultado, al usar los dos métodos, es posible realizar análisis cuantitativo de substancias amorfas en concentraciones bajas.

     Figura 1: Perfiles y curvas de calibración
         obtenidas mediante difracción de rayos X
      Figura 2: Perfiles y curvas de calibración
   obtenidas mediante medidas de corrientes                        estimuladas térmicamente


Ultima IV representa el sistema estado del arte dentro de los sistemas multiuso de difracción de rayos X (DRX o XRD). Incorporando la tecnología patentada de la óptica transversal del haz (CBO) de Rigaku para instalarse y alinearse permanentemente, y permitir enfoque de geometrías y paralelos seleccionables por el usuario; el difractómetro de rayos X Ultima IV puede realizar muchas mediciones diferentes ... rápidamente... Read more...