Cambios estructurales de un aleado Whistler debido a tratamiento térmico

La Difracción de Rayos X (DRX o XRD) de película (lámina) delgada puede ser usada para estudiar variaciones en la superficie de un aleado Whistler y sus estados de interfz y estructura cristalina causados por tratamiento térmico

Utilizando el método dentro-de-plano con el sistema Rigaku de difracción multipropósito, Ultima IV, se estudiaron las funciones termo-dependientes de una película (lámina) de 100 nm de aleado Whistler (Co2MnGe) en un substrato de silicón con película (lámina) de óxido, al igual que la creación de una hetero-fase debido al tratamiento térmico.

Basado en los resultados de la medida, se encuentra que la película (lámina) de CoMnGe, la cual casi ni se cristalizó en el estado en el que se depositó, se cristaliza a la estructura L21 mediante tratamiento térmico, y, cuando se incrementa la temperatura aún más, cobalto se precipita de la película (lámina). (La estructura cristalina L21 consiste de cuatro cubos adentro de los cuales el átomo del centro es diferente a los átomos de las esquinas, y los cubos contiguos tienen átomos diferentes en su centro.)

Como resultado de efectuar medidas de difracción y reflectividad precisas, se encuentra que la cristalinidad, el constante de celosía, y la aspereza de la superficie e interfaz también dependen del tratamiento térmico.

Whistler alloy

In-plane and Out-of-Plane

Ultima IV representa el sistema estado del arte dentro de los sistemas multiuso de difracción de rayos X (DRX o XRD). Incorporando la tecnología patentada de la óptica transversal del haz (CBO) de Rigaku para instalarse y alinearse permanentemente, y permitir enfoque de geometrías y paralelos seleccionables por el usuario; el difractómetro de rayos X Ultima IV puede realizar muchas mediciones diferentes ... rápidamente... Read more...