Análisis de materiales de película (lámina) delgada

En el análisis de materiales de película (lámina) delgada, es posible usar figuras de polo para determinar relaciones de orientación entre substratos y materiales depositados. En este ejemplo de Ultima-IV, figuras de polo en-plano fueron recopiladas del substrato de platino (Pt) y capa delgada PLT de (Pb,La)TiO3/Pt/MgO. Claramente se demuestra la relación epitaxial entre el substrato y la capa del material. La geometría en-plano es crítica para esta medida, la cual permite que se recopilen figuras de polo completas en el sustrato y la capa delegada.

in-plane pole figures collected

Quizá la medida más útil para la rigorosa interpretación de las propiedades de película (lámina) mediante difracción de rayos X, es el mapa de espacio recíproco (RSM). Los RSMs muestran la localidad y las características de puntos de espacios recíprocos que vienen de heteroestructuras epitaxiales. Los RSMs pueden ser usados para interpretar la orientación, perfección, tensión, y relajación de materiales complejos. En el ejemplo siguiente, el uso de barrido en-plano permite que la información sea recopilada en direcciones paralelas a la superficie de la muestra de película (lámina) delgada.

reciprocal space map (RSM)

En la difracción de rayos X en alta definición, el modulo CBO proporciona haces paralelos intensos y de alta calidad para el acondicionamiento continuado mediante múltiples cristales ópticos alineaos automáticamente – proporcionando, así, rendimiento optimo a través de una sola configuración fácil-de-usar. La curva de oscilación de alta definición (debajo) demuestra la separación de picos entre la capa y las composiciones de aleación que reflejan el substrato.

high resolution rocking curve



Ultima IV representa el sistema estado del arte dentro de los sistemas multiuso de difracción de rayos X (DRX o XRD). Incorporando la tecnología patentada de la óptica transversal del haz (CBO) de Rigaku para instalarse y alinearse permanentemente, y permitir enfoque de geometrías y paralelos seleccionables por el usuario; el difractómetro de rayos X Ultima IV puede realizar muchas mediciones diferentes ... rápidamente... Read more...