Mediciones de alto poder e intensidad de muestras de polvo

Las mediciones de difracción de polvos tradicionales usan la geometría de foco Bragg-Brenato para proporcionar medidas de alto poder e intensidad de las muestras de polvo. Por otra parte, para muchas muestras con irregularidades de superficie, es preferible usar geometría de haz paralelo. Para ofrecer flexibilidad completa sin la necesidad de reconfigurar el sistema, ambas geometrías son ofrecidas por Ultima IV – sistema fundamental para el CBO.

Las aplicaciones de difracción de polvo compatibles con el sistema, incluyen:

  • Identificación de fase
  • Análisis de tamaño/tensión de cristalito
  • Análisis cuantitativo
  • Determinación precisa de parámetros de celosía
  • Porcentaje de cristalinidad
  • Refinamiento Rietveld

focusing geometry

El análisis cuantitativo preciso usando el método Rietveld es un ejemplo de una de muchas soluciones de rayos X avanzadas simplificadas por el sistema Ultima IV. En el ejemplo siguiente, se usa geometría de foco para obtener picos de perfil de alta resolución de mezclas de fase de ZnO, MgO, and Al2O3 bien preparadas.
focusing geometry

one touch selection

En los casos en los que la muestra de superficie es de baja calidad, la selección de un solo toque de la geometría de haz paralelo – hecha posible por CBO – permite la recopilación de datos precisa, aún bajo condiciones adversas. En el ejemplo siguiente, los grano ásperos del foto-catalizador no causan algún problema de recopilación de datos para el sistema Ultima IV configurado con CBO.
no problems in data acquisition for the Ultima IV

X-ray diffraction data easily collected from different points

Un sistema con etapa de posicionamiento XYZ y magnificación de cámara con CCD es integrado perfectamente para permitir que la recopilación de datos de difracción de rayos X se realice de manera fácil, aún desde diferentes puntos en la superficie de la muestra. En este último ejemplo, la capacidad del sistema de posicionamiento para medir áreas pequeñas, en combinación con paralelo intenso proveído por CBO, realiza mediciones fáciles y rápidas desde dos lugares diferentes sobre una placa de circuito impreso.
nmeasurements from two different locations simple and fast

ultimaUltima IV representa el sistema estado del arte dentro de los sistemas multiuso de difracción de rayos X (DRX o XRD). Incorporando la tecnología patentada de la óptica transversal del haz (CBO) de Rigaku para instalarse y alinearse permanentemente, y permitir enfoque de geometrías y paralelos seleccionables por el usuario; el difractómetro de rayos X Ultima IV puede realizar muchas mediciones diferentes ... rápidamente... Read more about Rigaku's Ultima IV...