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XRF products from Rigaku

El nuevo espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF), de sobremesa, de próxima generación

El espectrómetro secuencial WDXRF con tubo inferior de sobremesa, analiza de O a U en sólidos, líquidos y polvos.

High-power, tube-below, sequential WDXRF spectrometer with new ZSX Guidance expert system software

Espectrómetro secuencial WDXRF de alta potencia, de tubo superior con nuevo software de sistema experto Guidance (Guía) ZSX.

Espectrómetro WDXRF diseñado para manejar muestras muy grandes y/o pesadas.

Espectrómetro WDXRF de alto rendimiento, multicanal, simultaneo, de tubo superior, analiza de Be a U

Analizador WDXRF de azufre ultra bajo para el método ASTM D2622.

Analizador WDXRF de azufre ultra bajo para el método ASTM D2622.

El analizador elemental EDXRF de geometría cartesiana de alto rendimiento mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas

Nuevo sistema EDXRF de colimador variable de pequeño punto de 60 kV con software QuantEZ

Nuevo sistema EDXRF de 60 kV con software QuantEZ y análisis sin estándares opcional.

El analizador elemental EDXRF de bajo costo mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas

El analizador elemental EDXRF de rendimiento mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas

Espectrómetro EDXRF con potente software de Windows® y FP opcional

Analizadores de escaneo de proceso de elementos múltiples, para aplicaciones de tira o bobina.

El analizador de procesos de elementos múltiples EDXRF analiza de aluminio (Al) a uranio (U).

Metrología de contaminación superficial elemental traza por TXRF; obleas de hasta 200 mm

Metrología de contaminación superficial elemental traza por TXRF; obleas de hasta 200 mm

Metrología de contaminación de la superficie elemental traza por TXRF; obleas de hasta 300 mm

Metrología de contaminación de superficie elemental ultratrazas por TXRF con capacidad VPD; obleas de hasta 300 mm