El nuevo espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF), de sobremesa, de próxima generación
El espectrómetro secuencial WDXRF con tubo inferior de sobremesa, analiza de O a U en sólidos, líquidos y polvos.
High-power, tube-below, sequential WDXRF spectrometer with new ZSX Guidance expert system software
Espectrómetro secuencial WDXRF de alta potencia, de tubo superior con nuevo software de sistema experto Guidance (Guía) ZSX.
Espectrómetro WDXRF de alto rendimiento, multicanal, simultaneo, de tubo superior, analiza de Be a U
El analizador elemental EDXRF de geometría cartesiana de alto rendimiento mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas
El analizador elemental EDXRF de bajo costo mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas
El analizador elemental EDXRF de rendimiento mide de Na a U en sólidos, líquidos, polvos y películas delgadas
Analizadores de escaneo de proceso de elementos múltiples, para aplicaciones de tira o bobina.
El analizador de procesos de elementos múltiples EDXRF analiza de aluminio (Al) a uranio (U).
Metrología de contaminación de la superficie elemental traza por TXRF; obleas de hasta 300 mm
Metrología de contaminación de superficie elemental ultratrazas por TXRF con capacidad VPD; obleas de hasta 300 mm