Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión por longitud de onda

Análisis elemental rápido para muestras muy grandes y/o pesadas

AZX 400

El espectrómetro único AZX 400 de Rigaku, de fluorescencia de rayos X de dispersión por longitud de onda, fue diseñado específicamente para manejar las muestras muy grandes y/o pesadas. Acepta muestras de hasta 400 mm de diámetro, 50 mm de espesor y 30 kg de peso. Este sistema es ideal para el análisis de blancos de pulverización, discos magnéticos, o de metrología película de múltiples capas o análisis elemental de muestras de gran tamaño.

Sistema adaptador de muestra personalizado

Contar con la versatilidad para adaptarse a diferentes tipos de muestras y las necesidades específicas de análisis, el AZX 400 es adaptable a diferentes tamaños y formas de las muestras, usando adaptadores insertados opcionales (por encargo). Con un punto de medición variable (30 mm a 0.5 mm de diámetro con una selección de cinco pasos automáticos) y la capacidad de asignación con múltiples puntos de medición para comprobar la uniformidad de la muestra, este instrumento tan flexible puede facilitar.

Ejemplo de vista de cámara con iluminación especial

La cámara opcional en tiempo real permite la vista del punto de análisis en la pantalla. El operador tiene certeza total de lo que se está midiendo.
Capacidades analíticas tradicionales de WDXRF
Todas las capacidades analíticas de un instrumento tradicional se mantienen en esta "amplia muestra" variante. Analizar berilio (Be) a través de uranio (U) con la espectroscopía WDXRF de alta resolución, alta precisión, de sólidos a líquidos y de polvos a las películas finas. Analizar amplias gamas de composición (ppm a decenas de por ciento) y espesores (de un sub Å mm). Opcionalmente está disponible el pico de difracción de rechazo de interferencias, para obtener resultados óptimos para sustratos de cristal único. El Rigaku AZX 400 cumple con los estándares de la industria SEMI y CE.
AZX 400
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Features

  • Análisis de muestras grandes
    • Hasta 400 mm (diámetro)
    • Hasta 50 mm (grosor)
    • Hasta 30 kg (masa)
  • Sistema adaptador de la muestra
    • Adaptable a varios tamaños de muestra
  • Medición in situ
    • De 30 mm a 0.5 mm de diámetro
    • 5-pasos de selección automática
  • Capacidad de asignación o mapeo
    • Permite mediciones multipunto
  • Cámara para vistas de la muestra (opcional)
  • De uso general
    • Analiza de Be - U
    • Rango elemental: ppm a %
    • Rango de espesores: sub Å a mm
  • Difracción de rechazo de interferencias (opcional)
    • Resultados exactos para sustratos de monocristal
  • En cumplimiento con los estándares de la industria
    • SEMI, la marca CE
  • Ocupa poco espacio
    • Tamaño compacto 50% menor al modelo anterior
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