Espectrómetro FAST SDD® EDXRF con el software QuantEZ

Análisis elemental de alta resolución de Na a U

NEX DE

Como un analizador elemental premium de fluorescencia de rayos X por energía dispersiva (EDXRF) de sobremesa y de alto rendimiento, el Rigaku NEX DE ofrece una amplia cobertura elemental con un software QuantEZ basado en Windows® fácil de aprender. El análisis no destructivo de sodio (Na) a uranio (U) en casi cualquiera matriz, desde sólidos y aleaciones a polvos, líquidos y lodos.

Análisis elemental XRF en el campo, planta o laboratorio

Especialmente diseñado y desarrollado para ser usado en la industria pesada, ya sea en la planta o en el campo, el superior poder analítico, flexibilidad y facilidad de uso de la serie NEX DE son características que la hacen eficaz en una variedad cada vez mayor de aplicaciones, incluyendo la exploración, investigación, inspección RoHS mayor, y educación, así como aplicaciones de monitoreo industrial y de producción. Si la necesidad es el control básico de calidad (CC) o sus variantes más sofisticadas, como el control de calidad analítico (CCA), la garantía de calidad (GC) o el control estadístico de procesos como Six Sigma; el NEX DE es la opción confiable para el análisis elemental de rutina por XRF.

XRF con tubo de rayos X de 60kV y detector SDD

El tubo de rayos X de 60kV con obturador y el Detector de Deriva de Silicio FAST SDD de enfriamiento Peltier, entrega una excepcional repetibilidad a corto plazo y reproducibilidad a largo plazo con una excelente resolución de los picos de elementos. Esta alta capacidad de tensión (60 kV), junto con corrientes de altas emisiones y múltiples filtros automáticos de tubos de rayos X, ofrece una amplia variedad de aplicaciones versátiles de XRF y bajos límites de detección(LOD).

Opciones de XRF: automuestreador, vacío, helio y FP sin estándares

Las opciones incluyen parámetros fundamentales, una variedad de cambiadores de muestras automáticos, rotador de muestra y purga de helio o ambiente de vacío para una sensibilidad de elementos ligeros mejorada.

FAST SDD® es una marca registrada de Amptek, Inc.

NEX DE
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Features

  • Análisis no destructivo de ₁₁Na a ₉₂U
  • Potente software QuantEZ basado en Windows®
  • Sólidos, líquidos, aleaciones, polvos y películas delgadas
  • Tubo de rayos X de 60kV para una amplia cobertura elemental
  • Detector FAST SDD® para estadísticas de conteo superiores
  • Múltiples filtros de tubos automáticos para mejorar la sensibilidad
  • Relación rendimiento/precio incomparable
  • Opcional: software de parámetros fundamentales RPF-SQX
  • Opcional: software de parámetros fundamentales sin estándares

NEX DE specifications

Excitation
  • 60kV X-ray tube
  • 12W max power
  • 7 tube filter positions
  • 10 mm collimator

Detection

  • High performance FAST SDD detector
  • Peltier thermo-electric cooling
  • High spectral resolution with
    very high count rates

Sample Chamber

  • Large 30.5 (W) X 30.5 (D) x 10.5 (H) cm chamber
  • Single position 32 mm sample aperture
  • Single position 40 mm sample aperture
  • 15-position 32 mm automatic sample changer
  • 10-position 40 mm automatic sample changer
  • 9-position 50 mm automatic sample changer
  • Single position 32 mm sample spinner
  • Analysis in air, helium, or vacuum (single position)

Environmental Conditions

  • Ambient temperature 10-35ºC (50-95ºF)
  • Relative humidity ≤85% non-condensing
  • Vibration: undetectable by people
  • Free from corrosive gas, dust and particles

Software & Application Packages

  • Qualitative and quantitative analysis
  • Wide variety of features
  • Fundamental parameters (optional)
  • Data export function with LIMS compatibility
  • User selectable shaping times
  • Simple flow bar wizard to create new applications

User Interface

  • QuantEZ software
  • External PC computer
  • External printer
  • Data export connections

Spectrometer Data

  • Single phase AC 100/220V, 1.5A (50/60 Hz)
  • Dimensions: 35.6(W) X 35.1(D) X 26.0(H) cm (14 X 13.8 X 10.2 inch)
  • Weight: <27 kg (<60 lbs)

Options

  • RPF-SQX fundamental parameters
  • UltraCarry® Fundamental Parameters Module with UltraCarry disks
  • Helium purge
  • Single sample vacuum system
  • Single position 32 mm sample spinner
  • 15-position 32 mm automatic sample changer
  • 10-position 40 mm automatic sample changer
  • 9-position 50 mm automatic sample changer
  • UPS 865W / 1500VA Battery backup / transient surge protection
  • Printer
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Powerful Windows® based QuantEZ software

QuantEZ analytical software was specifically designed for the Rigaku NEX series of benchtop EDXRF analyzers. Running under the Microsoft® Windows® operating system, on either a laptop or benchtop personal computer (PC), the software offers all the functions required calibration and routine operation. Rigaku has developed software that is not only user-friendly, but sophisticated and powerful enough for the most complex analysis. Based on the famous Rigaku easy-to-use flow bar interface, QuantEZ software walks the user through steps required to setup either an empirical or fundamental parameters application.

QuantEZ screen

EZ Analysis interface, available in a variety of languages, is used for routine measurements. A live spectral display is shown in the right window.

NEX DE is optionally powered by new qualitative and quantitative fundamental parameters (FP) analytical software, RPF-SQX, that features Rigaku Profile Fitting (RPF) technology. The software allows semi-quantitative analysis of almost all sample types without standards – and rigorous quantitative analysis with standards. Featuring Rigaku’s famous Scatter FP method, the software can automatically estimate the concentration of unobserved low atomic number elements (H to F) and provide appropriate corrections.

RPF-SQX greatly reduces the number of required standards, for a given level of calibration fit, as compared to conventional EDXRF analytical software. As standards are expensive, and can be difficult to obtain for many applications, the utility of RPF-SQX can significantly lower the cost of ownership and reduce workload requirements for routine operation.


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