EDXRF: Analizador de fluorescencia de rayos X por energía dispersiva

Análisis elemental de sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas por EDXRF

NEX QC+

Para aplicaciones más exigentes, o para situaciones donde el tiempo de análisis o procesamiento de muestras es crítico, Rigaku ofrece el nuevo espectrómetro NEX QC+. Utilizando la próxima generación de tecnología de detector de silicio, el mejorado NEX QC+ ofrece mejoras significativas en la resolución elemental de pico y estadísticas de conteo, resultando en una calibración superior y precisión para las mediciones más difíciles.

EDXRF para aplicaciones de control de calidad

Diseñado específicamente para aplicaciones de rutina de control de calidad, el nuevo NEX QC de Rigaku, ofrece una interfaz de pantalla intuitiva táctil "basada en íconos" para un funcionamiento fácil y una impresora integrada para mayor comodidad.

EDXRF con alta precisión y cobertura elemental ampliada

El detector semiconductor enfriado Peltier y el tubo de rayos X cerrado de 50kV, ofrecen una repetibilidad excepcional a corto plazo, y la reproducibilidad a largo plazo con una excelente resolución máxima del elemento de pico. Esta capacidad de alto voltaje (50 kV), junto con varios filtros de tubos de rayos X automáticos, ofrecen una amplia gama de aplicaciones versátiles y bajos límites de detección (LOD).

EDXRF con automuestreador, opciones de helio y de FP

Las opciones incluyen los parámetros fundamentales o FP, cambiador de muestras automático, girador de muestra y purga de helio para una mayor sensibilidad a elementos ligeros.

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Features

  • Análisis no destructivo de 11Na a 92U
  • Sólidos, líquidos, polvos, aleaciones y películas delgadas
  • Tubo de rayos X de 50kV para una amplia cobertura elemental
  • Detector SDD para una resolución superior y sensibilidad
  • Interfaz de usuario de "ícono impulsado" estilo smartphone
  • Filtros de tubos múltiples automáticos para una mayor sensibilidad
  • Conveniente impresora térmica integrada
  • De bajo costo con incomparable relación rendimiento-precio
  • Parámetros fundamentales opcionales

NEX QC+ specifications

Excitation
  • 50kV X-ray tube
  • 4W max power
  • 6 tube filter positions with shutter

Detection

  • High performance semiconductor detector
  • Peltier thermo-electric cooling
  • Optimum balance of spectral resolution and max count rate

Sample Chamber

  • Large 190 x 165 x 60 mm sample chamber
  • Single position 32 mm sample aperture
  • Single position 40 mm sample aperture
  • Bulk sample aperture
    6-position 32 mm automatic sample changer
  • 5-position 40 mm automatic sample chamber
  • Single position 32 mm sample spinner
  • Analysis in air or helium

Environmental Conditions

  • Ambient temperature 10-35ºC (50-95ºF)
  • Relative humidity ≤85% non-condensing
  • Vibration: undetectable by people
  • Free from corrosive gas, dust and particles

Software & Application Packages

  • Qualitative and quantitative analysis
  • Normalization and validation feature
  • Fundamental parameters
  • Data export function with LIMS compatibility
  • User selectable shaping times
  • Simple flow bar wizard to create new applications
  • Icon driven graphical user interface

User Interface

  • Embedded computer
  • Internal thermal printer
  • USB & Ethernet connections

Spectrometer Data

  • Single phase AC 100/220V, 1.4A (50/60 Hz)
  • Dimensions: 33.1(W) X 43.2(D) X 37.6(H) cm (13 X 17 X 14.8 inch)
  • Weight: 16 kg (35 lbs)

Options

  • 6-position 32 mm automatic sample changer
  • 5-position 40 mm automatic sample chamber
  • Single position 32 mm sample spinner
  • Helium purge
  • Fundamental parameters
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NEX QC+ accessories

Several third party vendors supply industry standard sample preparation equipment and sample holders/films that may be used with this equipment.

  • 6-position 32 mm automatic sample changer
  • 5-position 40 mm automatic sample chamber
  • Single position 32 mm sample spinner
  • Helium purge
  • Fundamental parameters

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