Espectrómetro de tubo por encima de fluorescencia de rayos X de dispersión por longitud de onda

WDXRF de alto rendimiento para un rápido análisis elemental cuantitativo

ZSX Primus II

El Rigaku ZSX Primus II entrega una determinación rápida y cuantitativa de los elementos atómicos mayores y menores, desde el berilio (Be) hasta el uranio (U), en una amplia variedad de tipos de muestras - con las normas mínimas.

Tubo de óptica por encima para una confiabilidad superior

ZSX El ZSX Primus II cuenta con una innovadora óptica por encima de la configuración. No se preocupe nunca más por la trayectoria del la luz contaminada o del tiempo inactivo debido al mantenimiento de la cámara de muestreo. La geometría de óptica por encima elimina las preocupaciones de limpieza e incrementa su tiempo.

Rendimiento de bajo Z con asignación y análisis de multipunto

ZSX Primus II proporciona un rendimiento superior y tiene la flexibilidad de analizar las muestras más complejas; cuenta con un tubo de 30 micras, el tubo con final de la ventana más delgado disponible en la industria, para la detección de límites de elementos de luz excepcional (bajo Z). Combinado con el paquete de asignación o mapeo más avanzado para detectar la homogeneidad y las inclusiones, el ZSX Primus II permite una investigación mas fácil y detallada con muestras que ofrecen una visión de análisis que no se obtiene fácilmente con otras metodologías analíticas. También esta disponible el análisis de multipunto que ayuda a eliminar los errores de muestreo en los materiales no homogéneos.

Parámetros fundamentales SQX con software EZ-scan

El EZ-scan permite a los usuarios analizar las muestras desconocidas sin ningún tipo de configuración previa. Esta característica le ahorra tiempo y sólo requiere unos cuantos clics en el ratón y un nombre de muestra para ingresar. Combinado con los parámetros fundamentales del software SQX, este proporciona los resultados más rápidos y precisos de XRF. El SQX es capaz de corregir automáticamente todos los efectos de la matriz, incluyendo las líneas de solapamientos. El SQX también puede corregir el efecto de excitación secundaria por fotoelectrones (elementos ligeros y ultraligeros), variando las atmósferas, las impurezas y los diferentes tamaños de muestra. Para obtener la mayor precisión debe utilizar la biblioteca de coincidencia y programas de análisis de escaneo perfectos.

Ask for more info

Features

  • Análisis de los elementos de Be a U
  • Tubo por encima de la óptica minimiza los problemas de contaminación
  • Para laboratorios con espacios reducidos, no ocupa mucho espacio
  • Análisis micro para analizar muestras tan pequeñas como de 500 µm
  • Tubo de 30μ ofrece un rendimiento superior de elemento de luz
  • Asignación de función para la topografía elemental/distribución
  • El sello de Helio demuestra que la cámara de muestreo está siempre en vacío

ZSX Primus II specifications

General
  Elemental coverage ₄Be through ₉₂U
  Optics Wavelength dispersive, sequential, tube above
X-ray generator
  X-ray tube End window, Rh-anode, 3kW or 4 kW, 60kV
  HV power supply High frequency inverter, ultra-high stability
  Cooling Internal water-to-water heat exchanger
Spectrometer
  Sample changer 48 positions standard, 96 optional
  Sample inlet APC automatic pressure controller
  Maximum sample size 51 mm (diameter) by 30 mm (high)
  Sample rotation speed 30 rpm
  Primary X-ray filters Al25, Al125, Ni40 and Ni400
  Beam collimators 6 auto-selectable diameters: 35, 30, 20, 10, 1 and 0.5 mm
  Divergence slit 3 auto-selectable: standard, high, and coarse (optional) resolutions
  Receiving slit For SC and for F-PC detectors
  Goniometer θ – 2θ independent drive mechanism
  Angular range SC: 5-118°, F-PC: 13-148°
  Angular reproducibility Ultra-high precision
  Continuous scan 0.1 - 240°/min
  Crystal changer 10 crystals, automatic mechanism
  Vacuum system 2 pump high-speed system w/ (optional) powder trap
  He flush system Optional, with partition
Detector systems
  Heavy element detector Scintillation counter (SC)
  Light element detector Flow proportional counter (F-PC)
  Attenuator In-out automatic exchanger (1/10)
If you are unable to view this video, click here to download it (315 MB).

ZSX Primus II software

Overview:

  • Qualitative analysis:
    • Automatic peak identification
    • Smoothing, background subtraction
  • Quantitative analysis:
    • Matrix correction: Lachance-Traill, DeJohngh, JIS, etc.
    • Linear, quadratic and cubic regression, multiple line
    • Fundamental parameter method
  • EZ scan (qualitative)
  • Application template
  • Analysis area automatic selection (mask size detection)
  • Peak deconvolution (function and standard profile)
  • Background fitting (multi-point function fitting, area designation)
  • Fixed precision analysis
  • Help function
  • E-mail forwarding function
  • Universal standard sample
  • Analysis simulation program (analysis depth evaluation, etc.)

Optional:

  • SQX program
    • EZ scan (SQX)
    • Fixed angle measurement
    • Thin-film analysis
    • Theoretical overlap correction
    • Drift correction library
    • Photoelectron FP method
    • He atmosphere correction
    • Sample film correction
      • Impurity correction
      • Matching library
      • SQX scatter FP method
      • Material judgment
  • Quantitative scatter FP method
  • Quantitative FP theoretical overlap correction
  • Fusion disk correction (flux evaporation)
  • Charge correction
  • Program operation
    • Time preset analysis
    • Energy saving
    • Auto power off
  • Sample observation mechanism
  • Point/mapping function
  • Remote control function (VCP)
Producto(s):

(Mantenga presionada la
tecla CTRL para seleccionar
varios productos)

Nombre (primer/apellido):
Compañía:
Correo electrónico o email:
Teléfono: Ext:
Dirección:
Ciudad:
Estado/provincia/región: (use la abreviación de dos letras para EU ( US))
Código o zona postal:
País:
Comentarios adicionales
 (no se aceptan URLs)