Análisis de micro-punto de un pigmento de inclusión en papel

Cuando aparece una irregularidad en el entorno de producción, se necesita una inmediata identificación y rectificación del problema. El análisis de falla y las pruebas de control de calidad son esenciales en cualquier instalación de producción confiable, y las herramientas analíticas que pueden cumplir con estas necesidades de investigación son invaluables.

Es espectrómetro de Dispersión de Rayos X por Longitud de Onda (WDXRF) ZSX Primus II de Rigaky puede confiable- y precisamente localizar diferencias elementales en una variedad de materiales mediante análisis de micro-punto en escalas pequeña a través de la técnica de fluorescencia de rayos X dispersiva de longitud-de-onda. El análisis micro-punto del ZSX Primus II colima el área analizada a 0.5 mm (500 micrones) de diámetro, y asegura la colocación precisa de la muestra con la integración combinada de una platina de θ-R y una cámara CCD de alta resolución localizada dentro del instrumento.

En el siguiente ejemplo, se analiza una inclusión o decoloración en una muestra de papel recubierto. Se realizaron dos análisis micro-situ para una comparación cualitativa de la zona pigmentada y un punto en blanco como referencia. Las áreas de análisis que se han seleccionado están indicadas por las X negras en la Figura 1.

Pigmented paper sample on the ZSX Primus II CC
Figura 1: Muestra de papel pigmentado en el CCD ZSX Primus II

Claramente, existen diferencias elementales en los materiales de papel, el cual está hecho primariamente de calcio, y el color del pigmento decolorado, el cual aparenta ser de silicio, como visto en la Figura 2.

elemental difference exists in the paper materials
Figura 2



ZSX El ZSX Primus II cuenta con una innovadora óptica por encima de la configuración. No se preocupe nunca más por la trayectoria del la luz contaminada o del tiempo inactivo debido al mantenimiento de la cámara de muestreo. La geometría de óptica por encima elimina las preocupaciones de limpieza e incrementa su tiempo. Read more...