Espectrómetro de tubo por encima de fluorescencia de rayos X de dispersión por longitud de onda

WDXRF de alto rendimiento para un rápido análisis elemental cuantitativo

ZSX Primus IV

Como un espectrómetro de fluorescencia de rayos X de longitud de onda dispersiva secuencial, de tubo por encima, el nuevo Rigaku ZSX Primus IV ofrece una rápida determinación cuantitativa de elementos atómicos mayores y menores, del berilio (Be) al uranio (U), en una amplia variedad de tipos de muestras con normas mínimas.

Nuevo software sistema experto ZSX Guidance

ZSX Guidance le apoya en todos los aspectos de las mediciones y del análisis de datos. ¿Sólo los expertos pueden realizar un análisis preciso? No, eso quedó en el pasado. El software Guidance ZSX, con la experiencia incorporada de XRF y el conocimiento de los expertos, se encarga de las configuraciones sofisticadas. Los operadores simplemente introducen la información básica de las muestras, de los componentes de análisis y de la composición estándar. Las líneas medidas con el mínimo solapamiento, fondos óptimos y los parámetros de corrección (incluyendo líneas solapadas) se ajustan automáticamente con la ayuda de espectros cualitativos.

Óptica de tubo por encima para una superior confiabilidad

ZSX Primus IV cuenta con una innovadora configuración de óptica por encima. Nunca más se preocupe por una ruta de haz contaminada o del tiempo de inactividad debido al mantenimiento de la cámara de muestras. La geometría de óptica por arriba, elimina las preocupaciones de limpieza y aumenta el tiempo productivo.
Rendimiento Bajo-Z con mapeo y análisis de multipuntos
Ofreciendo un rendimiento superior con flexibilidad para el análisis de las muestras más complejas, el ZSX Primus IV cuenta con un tubo de 30 micras, el tubo con final de ventana más delgado disponible en la industria, para la detección excepcional de los límites de elementos ligeros (Bajo-Z). En combinación con el paquete de mapeo más avanzado para detectar la homogeneidad e inclusiones, el ZSX Primus IV permite una fácil investigación detallada de las muestras que proporcionan conocimientos analíticos no fácilmente obtenidos por otras metodologías analíticas. El disponible análisis multipunto también ayuda a eliminar los errores de muestreo en los materiales no homogéneos.
Parámetros fundamentales SQX con el software EZ-scan
EZ-scan permite a los usuarios analizar muestras desconocidas sin ninguna configuración previa. Esta característica de ahorro de tiempo requiere de sólo unos pocos clics y de introducir un nombre para la muestra. En combinación con el software SQX de parámetros fundamentales, proporciona los más rápidos y precisos resultados de XRF posibles. SQX es capaz de corregir automáticamente todos los efectos de la matriz, incluyendo las líneas solapadas. SQX también puede corregir el efecto de excitación secundario por fotoelectrones (elementos ligeros y ultraligeros), variando atmósferas, impurezas y diferentes tamaños de muestra. Una mayor precisión es obtenida utilizando la biblioteca de coincidencia y programas de análisis de barrido perfectos.
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Features

  • Análisis de elementos de Be a U
  • Software sistema experto ZSX Guidance
  • Analizador digital multicanal (D-MCA)
  • Interfaz de análisis EZ para mediciones de rutina
  • La óptica de tubo por encima minimiza los problemas de contaminación
  • De tamaño pequeño, ocupa menos espacio en el laboratorio
  • Análisis micro para analizar muestras tan pequeñas como de 500 µm
  • El tubo de 30μ ofrece un rendimiento superior de elementos ligeros
  • Función de mapeo para la topografía/distribución elemental
  • Sello de helio, las ópticas están siempre bajo vacío

ZSX Primus IV specifications

General
  Elemental coverage ₄Be through ₉₂U
  Optics Wavelength dispersive, sequential, tube above
X-ray generator
  X-ray tube End window, Rh-anode, 3kW or 4 kW, 60kV
  HV power supply High frequency inverter, ultra-high stability
  Cooling Internal water-to-water heat exchanger
Spectrometer
  Sample changer 48 positions standard, 96 optional
  Sample inlet APC automatic pressure controller
  Maximum sample size 51 mm (diameter) by 30 mm (high)
  Sample rotation speed 30 rpm
  Primary X-ray filters Al25, Al125, Ni40 and Ni400
  Beam collimators 6 auto-selectable diameters: 35, 30, 20, 10, 1 and 0.5 mm
  Divergence slit 3 auto-selectable: standard, high, and coarse (optional) resolutions
  Receiving slit For SC and for F-PC detectors
  Goniometer θ – 2θ independent drive mechanism
  Angular range SC: 5-118°, F-PC: 13-148°
  Angular reproducibility Ultra-high precision
  Continuous scan 0.1 - 240°/min
  Crystal changer 10 crystals, automatic mechanism
  Vacuum system 2 pump high-speed system w/ (optional) powder trap
  He flush system Optional, with partition
Detector systems
  Heavy element detector Scintillation counter (SC)
  Light element detector Flow proportional counter (F-PC)
  Attenuator In-out automatic exchanger (1/10)
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