Composition

SFX et DRX pour analyse d’éléments et de phase

CompositionDeux techniques couramment employées pour déterminer la composition d'un échantillon inconnu de manière non-destructive sont la spectrométrie de fluorescence (SFX) et la diffractométrie de rayons X (DRX). La spectrométrie de fluorescence fournit des informations composition élémentaire du bore (B) à l'uranium (U) du niveau partie par million (PPM) à un niveau pour cent (%). En utilisant des algorithmes à paramètres fondamentaux (FP), la SFX peut fournir une analyse quantitative, sans la nécessité de normes de référence. La diffractométrie de rayons X fournit une identification de la composition de phase et peut distinguer les composés majeurs, mineurs, et en traces, présents dans un échantillon. L’analyse DRX comprend le nom minéral de la substance, la formule chimique, le système cristallin, et le nombre de motifs de référence provenant de la base de données ICDD international. Des informations quantitatives sans standard peuvent également être obtenues à partir de la DRX en utilisant une analyse de Rietveld.

Système

MiniFlex   MiniFlex
Nouveau système de comptoir DRX 6ème génération à usage multiple pour l'identification et la quantification de phase
  SmartLab   SmartLab
System XRD avancé ultramoderne à haute résolution alimenté par le logiciel système expert Guidance
  Ultima IV   Ultima IV
System XRD à haute performance et à usages multiples pour des applications allant de la R&D jusqu’au contrôle de qualité
RAPID II   RAPID II
Système DRX de plaque courbe d’imagerie (IP) est équipé d'une ouverture extrêmement large et un choix soit d’anodes rotatives ou d'un tube à rayons X scellé
  Supermini   Supermini200
Spectromètre séquentiel de tube de comptoir par dessous WDXRF analyse F à U dans les solides, liquides et poudres
  ZSX Primus   ZSX Primus
Spectromètre WDXRF séquentielle de haute puissance, de tube par-dessous, avec cartographie et performances supérieures des éléments légers
ZSX Primus II   ZSX Primus II
Spectromètre séquentiel WDXRF de tube par-dessus, avec cartographie et performance supérieure des éléments légers
  Simultix 15   Simultix 15
Spectromètre WDXRF à alimentations multiples à haut débit et en configuration tube-par-dessous analyse du Be à l’U
  MFM310   MFM310
Traite l’outil à métrologie XRR, SFX, and DRX pour les plaquettes à motifs; aux dimensions comprenant 300 mm