Diffractométrie de rayons X à haute température

Etudier le comportement des matériaux en fonction de la température

Diffractométrie de rayons X à haute températureLa diffractométrie-SX à rayons X (XRD) dans les conditions non-ambiantes peut être utilisée pour une variété d'applications, y compris l'étude des processus dynamiques qui ont besoin d'être étudiés in situ. Des exemples de tels procédés sont les réactions impliquant l'état solide, les transitions de phase, la croissance des cristallites, la dilatation thermique, etc. La diffractométrie de rayons X peut être utilisé comme un complément très instructif à d'autres techniques analytiques thermiques plus traditionnelles (thermogravimétrie, calorimétrie différentielle à balayage, etc.), fournissant ainsi efficacement les identifications de phase, l'analyse de texture, et la mesure de la taille de cristallite.

Systems

RAPID II   RAPID II
Système DRX de plaque courbe d’imagerie (IP) est équipé d'une ouverture extrêmement large et un choix soit d’anodes rotatives ou d'un tube à rayons X scellé
  Ultima IV   Ultima IV
System XRD à haute performance et à usages multiples pour des applications allant de la R&D jusqu’au contrôle de qualité
  SmartLab   SmartLab
System XRD avancé ultramoderne à haute résolution alimenté par le logiciel système expert Guidance