The ResQ CQL analyzer offers first responders, border protection and law enforcement an advanced method for identifying potential chemical threats in an improved tactical form factor, thus improving functionality particularly in high stress environments.
>> See more
半导体计量
用于薄膜表征的XRF、XRD和XRR
理学公司是设计和制造基于X射线测量工具解决半导体制造业面临的难题方面的先驱和领导者。在半导体行业中大约30年的全球市场领导地位,我们的产品系列使从晶片加工控制计量到薄膜研发和材料表征可能。
仪器
![]() |
MFM310 用于图案化晶片的工程管理用XRR、XRF和XRD计量工具,最高可测量300mm的晶片 |
![]() |
TXRF-310 使用TXRF测量微量元素的表面污染,最高可测300mm晶片 |
![]() |
TXRF 3760 使用TXRF测量微量元素的表面污染,最高可测200mm晶片 |
|||||
![]() |
TXRF-V310 使用TXRF和VPD功能计量微量元素的表面污染,最高可测300mm晶片 |
![]() |
WaferX 310 用于生产线的晶片金属薄膜计量的同时WDXRF光谱仪,最高可测300mm晶片 |
![]() |
WDA-3650 晶片金属薄膜计量的同时WDXRF光谱仪,最高可测200mm晶片 |
|||||
![]() |
SmartLab 通过系统指导软件(Guidance)运行的最新锐的高分辨率XRD仪器 |
![]() |
Ultima IV 用于应用程序从研发到质量管理的高性能多功能的XRD仪器 |
![]() |
TTRAX III 世界最大功率θ/θ高分辨率X射线衍射仪,特点为面内衍射机械臂 |