Instruments rayons X de diffraction de comptoir (XRD)

Analyse qualitative et quantitative de matériaux polycristallins

MiniFlex

L’année 2012 annonce les plus récents ajouts à la série MiniFlex des rayons X de diffraction (RXD) de comptoir. La nouvelle cinquième génération MiniFlex est un diffractomètre à rayon X pour utilisation générale, qui effectue une analyse quantitative des matériaux poly cristallins. MiniFlex est maintenant disponibles en deux variantes. Fonctionnant à 600W (tubes a rayons X), le MiniFlex est deux fois plus puissant que les autres modèles de comptoir, permettant une analyse plus rapide et une amélioration du débit global. Fonctionnant à 300W (tube a rayons X), le nouveau MiniFlex 300 ne nécessite pas un échangeur thermique externe. Chaque modèle est conçue pour maximiser la flexibilité dans un paquet comptoir.

Idéalement adapté pour des analyses DRX rapide du moment, la nouvelle 6eme génération MiniFlex fournit une vitesse et une sensibilité grâce à des améliorations technologique innovatrice telle que le facultatif détecteur de vitesse élevée D/TEX, couplé au nouveau 600W source a rayon X. L’optionnel monochromateur graphite, couplé avec le standard compteur à scintillation, maximise la sensibilité du ratio crête-à-fond. Si la résolution est primordiale, l’incident et le faisceau diffracté peut être sélectionné pour fournir la résolution souhaitée. Pour un haut débit d’échantillonnage, MiniFlex est le seul system de comptoir DRX avec un change d’échantillons disponible. Que l’enseignement à rayon X de diffraction se fasse au niveau collégial et universitaire, ou pour une routine d’assurance de la qualité industrielle, le MiniFlex délivre à la fois la de la performance et de la valeur.

Chaque MiniFlex est livre avec la dernière version de PDXL, la version complète d’analyse de diffraction de poudre de Rigaku. La dernière version de PDXL offre de nouvelles fonctionnalités importantes ; une méthode de paramètres fondamentale(PF) pour un calcul plus précis de pointe, l’identification de phase en utilisant la base de données ouverte Cristallographie, (BDOC) et un assistant pour ab initio analyse de la structure cristalline.

L’original MiniFlex, introduit en 1973, à été désigné pour permettre a un utilisateur novice de produire des résultats, avec un instrument DRX compact, comparable à ceux obtenus par un réfractionniste de formation. Le nouveau MiniFlex s’appuie sur les caractéristiques qui l’ont rendu populaire depuis de nombreuses années : une taille compacte et une conception robuste qui permet d’être installé dans un petit espace avec une manœuvre facile et un très faible cout de possession.

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Vue d’ensemble:

  • Nouveau design pour la 5ieme génération de 2012
  • Compacte, fiable boitier de radiation
  • Fente variable de faisceau d’incident
  • Simplicité d’installation et formation d’utilisateur
  • Système goniométrique d’usine aligne
  • Fonctionnement avec ordinateur portable
Mesure:
  • Identification de phase
  • Quantification de phase
  • Pourcent (%) de cristallinités
  • Taille et souche des cristallites
  • LRaffinement des paramètres de maille
  • Affinement de Rietveld
  • Structure moléculaires
Options:
  • 6 positions d’échantillons automatiques
  • Graphite monochromateur
  • Haute vitesse de détecteur de bande de silicium
  • Support d’échantillons d’air sensible
  • Housse de voyage

MiniFlex accessories

AccessoryASC-8 : automatic 8 position sample changer with spinner
Automatic 8-position sample changer is compact and rugged. Integrated spinning improves particle statistics in polycrystalline sample measurements. Fully automatic alignment. Programmable.
 
AccessorySample holders
Various sample holder are available to meet the specific needs of particular applications.
 
AccessorySpecimen rotation attachment
The sample rotation stage allows continuous rotation at variable
speed of the sample holder to improve particle statistics during
powder diffraction measurements.
 
AccessoryGraphite monochromator for D/teX Ultra
The graphite monochromator optimizes sensitivity by lowering the background level. It improves signal-to-noise by eliminating fluorescence from Mn, Fe, Co, and Ni containing materials.
 
AccessoryAir-sensitive sample holder
An enclosed sample holder is available for users studying materials that might degrade in the presence of oxygen.
 
AccessoryD/teX Ultra high speed detector
This 1D silicon strip detector is optionally available for fast, high-resolution scanning.
 
AccessoryBTS 500 high temperature attachment
The high temperature attachment can heat a sample to do in-situ powder diffraction measurements under high temperature conditions from ambient to 500°C.
 
AccessoryHyPix-400 MF: 2D HPAD detector
Advanced hybrid array pixel detector (HPAD) with zero background noise, an active area of ​​400 mm2, spatial resolution of 100 μm, and maximum count rate of 106 cps/pixel or more. HyPix-400 can operate in 0D, 1D or 2D modes.

PDXL est une gamme de logiciel compréhensive et complète pour l'analyse de la diffraction de poudre. La conception modulaire, le moteur de pointe et interface utilisateur conviviale satisfont à la fois les utilisateurs expérimentés et novices depuis la sortie du PDXL en 2007.

PDXL fournit divers outils d'analyse tels que l'identification automatique de la phase, l'analyse quantitative, l'analyse de la taille cristallites, des constantes de réseau de raffinement, l'analyse Rietveld, la détermination de structure ab initio, etc

Paramètre fondamental de méthode


La forme du pic dans un modele de diffraction de poudre sembelrait être une fonction delta si elle est mesurée dans des conditions idéales. En réalité, la forme du pic change en fonction d'un certain nombre de conditions de mesure: la distribution de longueur d'onde de la source, les systèmes optiques, les conditions de fente, la taille des cristallites et de la pressure subit, et ainsi de suite. Les formes des pics obtenus à partir de mesures faites dans des conditions réelles sont décrites à l'aide d'une fonction empirique comme une fonction pseudo-Voigt découpée, ou une fonction Pearson VII decoupee qui concorde avec les formes des pics obtenus. La méthode de paramètre fondamentale (méthode PF) est une méthode pour calculer la forme des pics par la convolution des formes causées par toutes les caracteristique des instruments et de l'échantillon.

Identification des phases en utilisant le COD


La base de données ouverte Cristallographie (COD) est un logiciel gratuit de base de données du domaine public des structures cristallines publiés dans l'Union Internationale de Cristallographie, de la Société Américaine de Minéralogie et ainsi de suite. PDXL peut incorporer à la fois ICDD/PDF-2 et la COD pour effectuer une identification automatique de la phase, ajoutant la bibliothèque COD comprenant plus de 150.000 structures cristallines aux capacités PDXL 2 déjà substantielles.

Assistant pour l'analyse ab initio de la structure cristalline

Récemment, il ya eu de nombreux exemples publiés d'analyse cristale ab initio de la structure réalisée sur les données de diffraction de poudre. Cette évolution est principalement attribuable à des améliorations significatives dans la vitesse de traitement PC et de l'efficacité des algorithmes utilisés pour la détermination de la structure.

PDXL a jusqu'ici fourni toutes les fonctions nécessaires pour l'analyse ab initio de la structure cristalline, comme l'indexation, la détermination de structure, et l'affinement de structure par la méthode de Rietveld. Maintenant l'assistant d'analyse de structure est disponible dans le PDXL pour fournir le soutien et l'orientation pour les utilisateurs qui entreprennent la procédure complexe de l'analyse de structure, en particulier des composés organiques. Avec cet assistant virtuel, il sera possible même pour le débutant d'atteindre le succès dans l'analyse.

Fonction de clustering

La PDXL pouvez regrouper les données de balayage multiples basées sur la similitude des motifs de diffraction de poudre et des positions de pointe, et affiche les données groupées dans un format facile à lire arborescence. Ceci est particulièrement efficace quand il s'agit de classer et de controler des données provenant d'un grand nombre de balayages.

  • Analyse pour la rechercher et la mise en relation avec PDF-2 et la base de données de cristallographie ouverte
  • Analyse quantitative
  • Cristallinité pour cent
  • Taille des cristallites et de la souche
  • Raffinement de cellules
  • Contraintes résiduelles
  • Indexage
  • Montage du profil du modèle complet
  • Résolution de la structure ab initio avec l'assistant virtuel


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Product Overview


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Tom McNulty discusses the MiniFlex 600 at Pittcon 2013



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