Instruments rayons X de diffraction de comptoir (XRD)

Analyse qualitative et quantitative de matériaux polycristallins

MiniFlex

L’année 2012 annonce les plus récents ajouts à la série MiniFlex des rayons X de diffraction (RXD) de comptoir. La nouvelle cinquième génération MiniFlex est un diffractomètre à rayon X pour utilisation générale, qui effectue une analyse quantitative des matériaux poly cristallins. MiniFlex est maintenant disponibles en deux variantes. Fonctionnant à 600W (tubes a rayons X), le MiniFlex est deux fois plus puissant que les autres modèles de comptoir, permettant une analyse plus rapide et une amélioration du débit global. Fonctionnant à 300W (tube a rayons X), le nouveau MiniFlex 300 ne nécessite pas un échangeur thermique externe. Chaque modèle est conçue pour maximiser la flexibilité dans un paquet comptoir.

Idéalement adapté pour des analyses DRX rapide du moment, la nouvelle 6eme génération MiniFlex fournit une vitesse et une sensibilité grâce à des améliorations technologique innovatrice telle que le facultatif détecteur de vitesse élevée D/TEX, couplé au nouveau 600W source a rayon X. L’optionnel monochromateur graphite, couplé avec le standard compteur à scintillation, maximise la sensibilité du ratio crête-à-fond. Si la résolution est primordiale, l’incident et le faisceau diffracté peut être sélectionné pour fournir la résolution souhaitée. Pour un haut débit d’échantillonnage, MiniFlex est le seul system de comptoir DRX avec un change d’échantillons disponible. Que l’enseignement à rayon X de diffraction se fasse au niveau collégial et universitaire, ou pour une routine d’assurance de la qualité industrielle, le MiniFlex délivre à la fois la de la performance et de la valeur.

Chaque MiniFlex est livre avec la dernière version de PDXL, la version complète d’analyse de diffraction de poudre de Rigaku. La dernière version de PDXL offre de nouvelles fonctionnalités importantes ; une méthode de paramètres fondamentale(PF) pour un calcul plus précis de pointe, l’identification de phase en utilisant la base de données ouverte Cristallographie, (BDOC) et un assistant pour ab initio analyse de la structure cristalline.

L’original MiniFlex, introduit en 1973, à été désigné pour permettre a un utilisateur novice de produire des résultats, avec un instrument DRX compact, comparable à ceux obtenus par un réfractionniste de formation. Le nouveau MiniFlex s’appuie sur les caractéristiques qui l’ont rendu populaire depuis de nombreuses années : une taille compacte et une conception robuste qui permet d’être installé dans un petit espace avec une manœuvre facile et un très faible cout de possession.

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Vue d’ensemble:

  • Nouveau design pour la 5ieme génération de 2012
  • Compacte, fiable boitier de radiation
  • Fente variable de faisceau d’incident
  • Simplicité d’installation et formation d’utilisateur
  • Système goniométrique d’usine aligne
  • Fonctionnement avec ordinateur portable
Mesure:
  • Identification de phase
  • Quantification de phase
  • Pourcent (%) de cristallinités
  • Taille et souche des cristallites
  • LRaffinement des paramètres de maille
  • Affinement de Rietveld
  • Structure moléculaires
Options:
  • 6 positions d’échantillons automatiques
  • Graphite monochromateur
  • Haute vitesse de détecteur de bande de silicium
  • Support d’échantillons d’air sensible
  • Housse de voyage

MiniFlex accessories

AccessoryASC-8 : automatic 8 position sample changer with spinner
Automatic 8-position sample changer is compact and rugged. Integrated spinning improves particle statistics in polycrystalline sample measurements. Fully automatic alignment. Programmable.
 
AccessorySample holders
Various sample holder are available to meet the specific needs of particular applications.
 
AccessorySpecimen rotation attachment
The sample rotation stage allows continuous rotation at variable
speed of the sample holder to improve particle statistics during
powder diffraction measurements.
 
AccessoryGraphite monochromator for D/teX Ultra
The graphite monochromator optimizes sensitivity by lowering the background level. It improves signal-to-noise by eliminating fluorescence from Mn, Fe, Co, and Ni containing materials.
 
AccessoryAir-sensitive sample holder
An enclosed sample holder is available for users studying materials that might degrade in the presence of oxygen.
 
AccessoryD/teX Ultra high speed detector
This 1D silicon strip detector is optionally available for fast, high-resolution scanning.
 
AccessoryBTS 500 high temperature attachment
The high temperature attachment can heat a sample to do in-situ powder diffraction measurements under high temperature conditions from ambient to 500°C.
 
AccessoryHyPix-400 MF: 2D HPAD detector
Advanced hybrid array pixel detector (HPAD) with zero background noise, an active area of ​​400 mm2, spatial resolution of 100 μm, and maximum count rate of 106 cps/pixel or more. HyPix-400 can operate in 0D, 1D or 2D modes.

SmartLab Studio II is a new Windows®-based software suite developed for the flagship Rigaku SmartLab X-ray diffractometer that integrates user privileges, measurements, analyses, data visualization and reporting. Newly available for the MiniFlex, the modular (plugin) architecture of this software delivers state-of-the-art interoperability between the functional components. Just one click switches from measurement to analysis. Watch real-time scans from one experiment while simultaneously analyzing other data on the same desktop by selecting an appropriate layout. The software provides various analysis tools such as automatic phase identification, quantitative analysis, crystallite-size analysis, lattice constants refinement, Rietveld analysis, ab initio structure determination, etc.

Powder XRD: phase identification with a variety of available databases

Peak position, FWHM, integrated intensity and crystallite size are calculated by profile fitting. Rigaku’s optional “Hybrid Search/Match” uses peak-base qualification, which detects heavily distorted lattices, to identify solid solution phases that are difficult to identify. It also can determine whether preferred orientation exists based on decomposed peak intensities.

Powder XRD: quantification package

This option supports internal standard, external standard, and standard addition calibration methods. Calibration curves are used to quantify specific phases in the sample.

Powder XRD: comprehensive analysis package

This optional package can provide analysis results such as crystalline size, lattice strain, lattice parameters refinement, % crystallinity based on fully automated profile fitting executed after loading measured data. Results obtained aid in understanding the relationship between structure and physical properties, and allow users to compare results across different samples.

Powder XRD: direct derivation analysis package

The direct derivation (DD) method was invented by Professor Hideo Toraya of Rigaku Corporation in 2016. It quantifies phases from all integrated diffraction intensities and the chemical formulas of each phase found. Compared to the classical RIR method, where a single integrated peak intensity and RIR number are used, the DD method is less affected by preferred orientation and peak overlap.

Powder XRD: Rietveld analysis package

The package performs phase identification followed by Whole Powder Pattern Fitting (WPPF). The Rietveld analysis refines crystal structure or quantifies the phases directly from measured data, requiring neither reference samples nor a calibration curve. The whole powder pattern decomposition (Pawley method) is based on both the measured peak positions, and peaks shapes.



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