Systeme polyvalents de diffraction aux rayons X

Systeme polyvalent de diffraction aux rayons X

Ultima IV

L’Ultima IV représente l’état-de-l’art dans les systèmes polyvalents de diffraction à rayon X. Incorporant la technologie à croix optique de faisceau (XRD) breveté par Rigaku pour la géométrie parallèle et ciblé, monté et aligné en permanence et sélectionnable par l’utilisateur, le diffractomètre à rayons X Ultima IV peut performer plusieurs différentes mesures… rapidement.

Conçu pour la performance

Avec un diffractomètre polyvalent, la performance est mesurée non seulement par la vitesse à laquelle vous effectuez une expérience, mais aussi la vitesse à laquelle vous pouvez basculez entre les différents types d’expérience. Les expériences individuelles sont optimisées avec des accessoires tels que le D/teX système de détection Ultra sensible à la position, mais la vitesse entre les expériences est radicalement améliorée grâce à la combinaison de l'alignement automatique et le CBO.

Conçu pour la flexibilité
L’Ultima IV est le seul system DRX sur le marché d’aujourd’hui qui intègre l’alignement entièrement automatique. Lorsque couplé avec le CBO et le bras dans le plan, la capacité d’alignement automatique rend le diffractomètre à rayon X Ultima IV, le système le plus flexible disponible pour les applications à usages multiples.
Fonctionnalité Redéfinie
Dans le système Ultima IV DRX, la technologie CBO élimine le temps passé à changer de géométrie, permet à l’utilisateur de tous les jours de faire marcher les deux ensembles d’expérimentation sans le besoin de reconfigurer le system, et réduit l’usure et les damages optiques possibles associés au processus récurrent de changement. Le CBO et l’alignement automatique combinent pour la fonctionnalité suprême pour: la diffraction microcristalline, la diffraction à couche mince, la diffusion à petite angle, et la diffusion sur le plan.
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Features:

  • Alignement entièrement automatisé sous control de l'ordinateur
  • Bras optionnel de diffraction dans le plan pour les mesures dans le plan sans reconfiguration.
  • Géométrie de faisceaux parallèles et à focus, sans reconfiguration.
  • Capacités SAXS.
  • D/teX optionnel Ultra haute vitesse, sensible à la position du système de détection.

Ultima IV specifications

Générateur de rayons X Sortie nominale maximale 3 kW
Tension Nominal du tube 20 - 60 kV
Tension Nominal de courant 2 - 60 mA
Cible Cu (autre: optionnel)
Taille de concentration 0.4 x 12 mm (autre: optionnel)
Goniomètre Mode de scannage θs/θd couplé ou θs, θd indépendant
Rayon de goniomètre 285 mm
2θ range de mesure -3 to 162° (maximum)
Etape minimale 0.0001°
Optics Fente de divergence Variable automatique ou fixe
Fente de diffusion Variable automatique ou fixe
Fente de réception Variable automatique ou fixe
Alignement Optique alignement automatique de la hauteur du tube, goniomètre, optique et détecteur
Monochromateur Position double du graphite à faisceau diffracte pour Cu : (autre: optionnel)
Détecteur Détecteur Compteur de scintillation (autre: optionnel)
Dimensions H x W x D 1600 x 1100 x 800 mm
Hauteur d’échantillon 1050 mm

PDXL est une gamme de logiciel compréhensive et complète pour l'analyse de la diffraction de poudre. La conception modulaire, le moteur de pointe et interface utilisateur conviviale satisfont à la fois les utilisateurs expérimentés et novices depuis la sortie du PDXL en 2007.

PDXL fournit divers outils d'analyse tels que l'identification automatique de la phase, l'analyse quantitative, l'analyse de la taille cristallites, des constantes de réseau de raffinement, l'analyse Rietveld, la détermination de structure ab initio, etc

Paramètre fondamental de méthode


La forme du pic dans un modele de diffraction de poudre sembelrait être une fonction delta si elle est mesurée dans des conditions idéales. En réalité, la forme du pic change en fonction d'un certain nombre de conditions de mesure: la distribution de longueur d'onde de la source, les systèmes optiques, les conditions de fente, la taille des cristallites et de la pressure subit, et ainsi de suite. Les formes des pics obtenus à partir de mesures faites dans des conditions réelles sont décrites à l'aide d'une fonction empirique comme une fonction pseudo-Voigt découpée, ou une fonction Pearson VII decoupee qui concorde avec les formes des pics obtenus. La méthode de paramètre fondamentale (méthode PF) est une méthode pour calculer la forme des pics par la convolution des formes causées par toutes les caracteristique des instruments et de l'échantillon.

Identification des phases en utilisant le COD


La base de données ouverte Cristallographie (COD) est un logiciel gratuit de base de données du domaine public des structures cristallines publiés dans l'Union Internationale de Cristallographie, de la Société Américaine de Minéralogie et ainsi de suite. PDXL peut incorporer à la fois ICDD/PDF-2 et la COD pour effectuer une identification automatique de la phase, ajoutant la bibliothèque COD comprenant plus de 150.000 structures cristallines aux capacités PDXL 2 déjà substantielles.

Assistant pour l'analyse ab initio de la structure cristalline

Récemment, il ya eu de nombreux exemples publiés d'analyse cristale ab initio de la structure réalisée sur les données de diffraction de poudre. Cette évolution est principalement attribuable à des améliorations significatives dans la vitesse de traitement PC et de l'efficacité des algorithmes utilisés pour la détermination de la structure.

PDXL a jusqu'ici fourni toutes les fonctions nécessaires pour l'analyse ab initio de la structure cristalline, comme l'indexation, la détermination de structure, et l'affinement de structure par la méthode de Rietveld. Maintenant l'assistant d'analyse de structure est disponible dans le PDXL pour fournir le soutien et l'orientation pour les utilisateurs qui entreprennent la procédure complexe de l'analyse de structure, en particulier des composés organiques. Avec cet assistant virtuel, il sera possible même pour le débutant d'atteindre le succès dans l'analyse.

Fonction de clustering

La PDXL pouvez regrouper les données de balayage multiples basées sur la similitude des motifs de diffraction de poudre et des positions de pointe, et affiche les données groupées dans un format facile à lire arborescence. Ceci est particulièrement efficace quand il s'agit de classer et de controler des données provenant d'un grand nombre de balayages.

  • Analyse pour la rechercher et la mise en relation avec PDF-2 et la base de données de cristallographie ouverte
  • Analyse quantitative
  • Cristallinité pour cent
  • Taille des cristallites et de la souche
  • Raffinement de cellules
  • Contraintes résiduelles
  • Indexage
  • Montage du profil du modèle complet
  • Résolution de la structure ab initio avec l'assistant virtuel


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