Spectromètre de tube par-dessus à fluorescence Rayon X à longueur d'onde propagée (WDXRF)

Haute-performance WDXRF pour analyse quantitative rapide d'élément

ZSX Primus II

Rigaku ZSX Primus délivre une rapide détermination quantitative des éléments atomique majeurs et mineurs, du béryllium (Be) à l’uranium (U), dans une grande variété de types d’échantillons-avec les normes minimales.

Tube-dessus optique pour une fiabilité supérieure

ZSX PRIMUS II dispose d’une configuration innovante de l’optique-du dessus. Plus jamais ne vous soucierez vous du trajet d’un faisceau contaminé ou du temps d’arrêts pour raison de maintenance de la chambre d’échantillon. La géométrie de l’optique-du dessus élimine les soucis de nettoyages et augmente le temps de disponibilité.

Basse-Z performances avec la cartographie et l’analyse multi-spot

Offrant des performances supérieures avec la souplesse nécessaire pour analyser les échantillons les plus complexes, le ZSX Primus II est dotée d’un tube de 30 microns, le plus fin tube de fenêtre de fermeture dans le marché industriel, pour un élément de lumière exceptionnel (faible Z) des limites de détection. Combiné avec le logiciel cartographique le plus avancé pour détecter l’homogénéité et les inclusions, le ZSX Primus II permet une étude facile et détaillé des échantillons qui donnent un aperçu analytique qui n’est pas facilement d’obtenir par d’autre méthode analytique. Des analyses de multi-spot disponibles aident à éliminer les erreurs d’échantillonnage dans les matériaux hétérogènes.

SQX Paramètres fondamentaux avec logiciel-EZ de numérisation

EZ-scan permet aux utilisateurs d’analyser des échantillons inconnus sans aucune configuration préalable. Cette fonctionnalité qui fait gagner du temps ne nécessite que quelque clic de souris et un nom d’échantillon à entrer. Combiné avec le logiciel à paramètres fondamentaux, il fournit les résultats les plus précis et un rapide résultat XRF possible. SQX est capable de corriger automatiquement pour toutes les matrices, y compris les chevauchements de ligne. SQX peut également corriger les effets d’excitation secondaire par photoélectron (élément légers et ultra légers) variant les atmosphères, les impuretés et les différentes tailles d’échantillons. Une augmentation de la précision est obtenue en utilisant la bibliothèque d’appariement et les programmes d’analyses de scanographies parfaites.

ZSX Primus II
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Features

  • Analyse des éléments de Be à U
  • Tube optique situé au-dessus minimise les problèmes de contamination
  • Faible encombrement, utilise le moindre espace de valeur du laboratoire
  • Micro analyse pour analyser les échantillons aussi petits que 500 µm
  • Tube de 30μ offrent des performances supérieures des éléments légers
  • Fonction de cartographie pour la topographie/distribution élémentaire
  • Le sceau à Hélium signifie que la chambre d’échantillonnage est toujours à vide

ZSX Primus II specifications

General
  Elemental coverage ₄Be through ₉₂U
  Optics Wavelength dispersive, sequential, tube above
X-ray generator
  X-ray tube End window, Rh-anode, 3kW or 4 kW, 60kV
  HV power supply High frequency inverter, ultra-high stability
  Cooling Internal water-to-water heat exchanger
Spectrometer
  Sample changer 48 positions standard, 96 optional
  Sample inlet APC automatic pressure controller
  Maximum sample size 51 mm (diameter) by 30 mm (high)
  Sample rotation speed 30 rpm
  Primary X-ray filters Al25, Al125, Ni40 and Ni400
  Beam collimators 6 auto-selectable diameters: 35, 30, 20, 10, 1 and 0.5 mm
  Divergence slit 3 auto-selectable: standard, high, and coarse (optional) resolutions
  Receiving slit For SC and for F-PC detectors
  Goniometer θ – 2θ independent drive mechanism
  Angular range SC: 5-118°, F-PC: 13-148°
  Angular reproducibility Ultra-high precision
  Continuous scan 0.1 - 240°/min
  Crystal changer 10 crystals, automatic mechanism
  Vacuum system 2 pump high-speed system w/ (optional) powder trap
  He flush system Optional, with partition
Detector systems
  Heavy element detector Scintillation counter (SC)
  Light element detector Flow proportional counter (F-PC)
  Attenuator In-out automatic exchanger (1/10)
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ZSX Primus II software

Overview:

  • Qualitative analysis:
    • Automatic peak identification
    • Smoothing, background subtraction
  • Quantitative analysis:
    • Matrix correction: Lachance-Traill, DeJohngh, JIS, etc.
    • Linear, quadratic and cubic regression, multiple line
    • Fundamental parameter method
  • EZ scan (qualitative)
  • Application template
  • Analysis area automatic selection (mask size detection)
  • Peak deconvolution (function and standard profile)
  • Background fitting (multi-point function fitting, area designation)
  • Fixed precision analysis
  • Help function
  • E-mail forwarding function
  • Universal standard sample
  • Analysis simulation program (analysis depth evaluation, etc.)

Optional:

  • SQX program
    • EZ scan (SQX)
    • Fixed angle measurement
    • Thin-film analysis
    • Theoretical overlap correction
    • Drift correction library
    • Photoelectron FP method
    • He atmosphere correction
    • Sample film correction
      • Impurity correction
      • Matching library
      • SQX scatter FP method
      • Material judgment
  • Quantitative scatter FP method
  • Quantitative FP theoretical overlap correction
  • Fusion disk correction (flux evaporation)
  • Charge correction
  • Program operation
    • Time preset analysis
    • Energy saving
    • Auto power off
  • Sample observation mechanism
  • Point/mapping function
  • Remote control function (VCP)
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