高圧条件下での単結晶X線構造解析

物質の構造と状態を決める上で、圧力は温度と並んで重要なパラメーターです。特に対象物質の構造変化を“その場観測”するために、高圧セルDAC(Diamond Anvil Cell)を用いたX線回折測定が活発に行われています。DACでは、高圧力を実現するため、一組のダイヤモンドで挟まれた、~300 µm以下の試料室に測定対象物を入れなければなりません。その結果、ダイヤモンドにより減衰を受けた微量な試料からの回折線を観測することになるため、一般的には放射光が用いられています。しかし、近年の要素技術の進歩により、実験室系の装置でも数µm程度の極微小単結晶から構造が得られるようになったため、DACによる高圧下でのX線回折測定が実験室系で可能となっています。


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