デスクトップX線回折装置を用いた 4成分試料の定量分析

これまで、X線回折法では、検量線を用いた定量分析が行われてきましたが、近年ではコンピューターおよび解析ソフトウェアの発展に伴い、WPPF(Whole Powder Pattern Fitting)法による定量分析が盛んに用いられるようになりました。WPPF法は、結晶系や格子定数の情報をもとに、比較的広い角度範囲についてプロファイルフィッティングを行う方法です。回折角度と同時に回折強度の精密化も行うことができるため、検量線を必要としない定量分析が可能です。従来のデスクトップX線回折装置では、定量分析に必要な広範囲かつ十分な強度のX線回折パターンを測定するために 1~2時間程度の測定時間を要していましたが、高速一次元検出器を搭載したデスクトップX線回折装置であれば、10分程度で定量分析に適したX線回折パターンを得ることができます。


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