高分解能集光ビーム光学系による有機結晶の粉末結晶構造解析

従来、結晶構造解析は単結晶法で行うのが一般的でした。しかし、単結晶の作製が難しい試料、また単結晶を作製できても結晶成長が難しい試料では単結晶法による結晶構造解析は困難となります。近年では粉末X線回折装置の精度が向上しているので、粉末試料から結晶構造解析を行うことも可能になりつつあります。ここでは粉末試料を測定し、得られた回折図形から構造解析を行った例を示します。

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