Jump to Navigation
製品案内
X線回折装置、蛍光X線分析装置、熱分析装置の販売やメンテナンスサービスを提供しています。
アプリケーション
測定・解析例、推奨装置等をご紹介。
手法
手法・目的別に、アプリケーションノートをご紹介。
分野
分野・材料別に、アプリケーションノートをご紹介。
ニュース
新着情報、イベント情報をご紹介いたします。
新着情報
イベント情報
サポート
ソフトウェアダウンロードや講習会などをご案内。
会社案内
会社概要・採用情報・拠点・事業紹介・ご挨拶
会社概要
お問い合わせ
You are here
Home
›
手法・目的
›
構造に関するもの
›
結晶子サイズと格子歪
› DVD記録層の結晶構造評価
DVD記録層の結晶構造評価
試料表面すれすれにX線を入射するインプレーン回折法では、厚さ1 nm程度の非常に薄い膜でも回折測定が可能です。これにより、多結晶性薄膜試料の結晶構造や格子定数、結晶子の大きさなどがわかります。
このアプリケーションをPDFで見る
推奨装置
薄膜評価用試料水平型X線回折装置 SmartLab
試料水平型多目的X線回折装置 Ultima IV + In-plane
Search form
Search
Desktop Site
Mobile Site
日本語