SX射线衍射(XRD)在非正常环境条件下可用于各种应用程序,包括需要原位监测动态过程的研究。这些过程的示例涉及固态、相的迁移、微晶生长、热膨胀等反应。X射线衍射丰富的信息可以对以往的热分析技术(热重量分析法、差示扫描量热法等)进行补充,从而有效地提供相鉴定,纹理分析和晶粒尺寸测量。