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半導体向け全反射蛍光X線分析オンデマンド・ウェビナー『汚染がみえる!~TXRFの基礎からノウハウまで~ 』

今回のウェビナーは、全反射蛍光X線の基礎を学習したい方に適した内容となっております。 弊社のアプリケーションエンジニアより、測定原理、機能紹介から、装置を適切に使用いただくためのノウハウや管理方法ついてご説明致します。

内容 (全体でおよそ60分)
• 汚染がみえる!~TXRFの基礎からノウハウまで~
 1. 全反射蛍光X線装置 (TXRF) の原理
 2. TXRFの原理
 3. 測定条件、検量線
 4. 測定データの注意点
 5. メンテナンス
• 全反射蛍光X線装置のご紹介

Presenter
渡辺 翔子(株式会社リガク 薄膜デバイス事業部)
中西 基裕(株式会社リガク 薄膜デバイス事業部)
戸部 政信(株式会社リガク 薄膜デバイス事業部)
Date/time (JST)

講義:約60分

2022年 5月16日(月) 9:00 ~ 5月27日(金) 17:00
※オンデマンド配信(期間中であれば何度でも、お好きなパートをご視聴頂けます。)


開催言語:日本語
定員:500名(無料:事前登録制)