X線水晶・単結晶方位測定装置 2991F2/2991G2

  • さまざまな単結晶の切断方位の決定が、各種試料ホルダと組み合わせることで、容易に行えます。(試料形状や切断方法、ご予定の切断機によっては、お打合せにより、試料ホルダの仕様を決めさせていただく場合があります。)
  • 切断後のブロック、ウェーハの切断角度の測定が、容易に行えます。
  • ハンドルを回して回折ピークを確認し、その角度を読み取ります。角度表示は、読み取り誤差のないデジタル表示です。
  • 防X線カバーは、1.フェールセーフ機能付き全覆い型防X線カバー、2.半覆い型防X線カバー、3.なし、の選択があります。
    ※安全にお使いいただくためには、1.をお勧めいたします。作業性その他の条件によって、やむを得ず2.3.を選択される場合は、作業者以外の立入りを制限する目的の測定専用室への設置をお願いします。基本的には、各国の法規に準じた処置が必要です。
2991F2/2991G2 image

水晶、ダイヤモンド、Si、GaAs、GGG・・・などの単結晶を、それぞれの目的に合った特性とするための、結晶軸に対する切断方向結晶方位測定を行うのがX線単結晶方位測定装置です。





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