X線回折装置(XRD)

粉末・薄膜・単結晶用から小角散乱(SAXS)・残留応力など専用機まで、さまざまな測定ニーズに応えるX線回折装置(XRD)をラインナップしています。

粉末X線回折装置

粉末X線回折装置

卓上型から汎用機まで、粉末・薄膜などさまざまな試料の種類や状態、測定目的に合わせた装置でニーズに応えます。

薄膜評価用X線回折装置

薄膜評価用X線回折装置

方位・配向・膜厚・結晶性など多彩な薄膜評価手法に対応し、さらには粉末構造解析から小角散乱測定のニーズにも応えます。

単結晶X線回折装置

単結晶X線回折装置

無機・有機化合物から生体高分子用にラインナップされたX線回折装置や、タンパク質の結晶化に関するツールや装置でニーズに応えます。

小角散乱測定装置

小角散乱測定装置

ナノ粒子径や空孔径解析など、各種ナノ材料の構造評価用小角散乱測定装置や解析ソフトウェアでニーズに応えます。

残留応力測定装置

残留応力測定装置

構造物から先端材料まで、また現場分析から研究開発用途まで、幅広い残留応力の測定・解析ニーズに応えます。

X線トポグラフ装置

X線トポグラフ装置

研究開発から品質管理用途まで、幅広く非破壊で結晶欠陥の測定・解析ニーズに応えます。

水晶・単結晶方位測定装置

水晶・単結晶方位測定装置

水晶・Si・Ge・GaAs・LN・LT・サファイヤなど、さまざまな単結晶材料の加工や品質管理ニーズに応えます。

アタッチメント

アタッチメント

高低温装置やX線回折-DSC同時測定装置など、X線回折装置用各種アタッチメントをご紹介しています。

ソフトウェア

ソフトウェア

定性分析から反射率解析、ナノ粒子径解析など、X線回折・小角散乱用各種ソフトウェアをご紹介しています。

検出器

検出器

高速検出器から1次元・2次元検出器など、各種測定目的に合わせてお選びいただける検出器をご紹介しています。