多目的試料高温装置

  • 独自の炉体構造により、低角入射および広角入射に対応しており、高温下における薄膜測定および歪測定を行なうことが可能です。
  • 気密ケースにはアルミ蒸着カプトンを使用しており、X線の減衰を少なくしています。
  • 試料ホルダを含む炉体周辺は、5相ステッピングモータ付移動機構が装備され、自動制御により正確なセッティングが容易に行なえます。
High Temperature XRD ATT

試料を高温に加熱することにより、結晶構造変化や物質相互間の溶解度の変化(状態図)などの情報が得られます。





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