微小部X線応力測定装置 AutoMATE II

  • 高感度・高エネルギー分解能の1次元半導体検出器 D/teX Ultra1000
    従来のPSPCの約1.7倍の検出効率。
    PB比の高いプロファイルの観測ができます。
  • 大型重量試料の非破壊残留応力測定
    試料水平ゴニオメータを採用しているので、測定中に試料を傾ける必要がなく、
    大型重量物でも高精度測定が可能です。
    最大試料サイズ:720(W)×560(D)×540(H)mm
  • 2θ=168°までの高角度回折線測定
    ピーニングや焼入材など、ブロードな回折線となる試料の応力測定も精度よくできます。
  • 試料観察機構
    CCD付ズーム顕微鏡システムを標準装備。
    試料の測定位置合わせの遠隔操作ができます。
  • 安全性
    インターロック機能付き防X線カバーを採用。
    X線作業主任者(日本)不要のMタイプ(X線発生中は扉が開かない)と、
    X線作業主任者(日本)が必要なMSタイプ(シャッター開放中は扉が開かない)
    の2タイプから選択できます。
  • 自動XYZステージ(オプション)とティーチング機能で自動マッピング測定&解析
    測定位置(X,Y,Z)の任意指定が可能。
    測定・解析条件は各測定点ごとに異なる指定が可能。
    試料を並べておけばサンプルチェンジャーとして使えます。

新型の半導体検出器、自動測定機能、大型試料対応で、製品の非破壊品質評価や事故解析を強力にサポートする微小部X線応力測定装置です。





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