全自動多目的X線回折装置 SmartLab SE
- 経験がなくてもさまざまな粉末X線回折測定ができる
強力なユーザーガイダンス機能を備えたX線分析統合ソフトウェア「SmartLab Studio II」が、測定から解析までを支援します。リガクの分析ノウハウに基づいて、ソフトウェアが最適な光学系を提案し、光学系の調整や測定条件の設定を自動で行います。粉末プロファイル測定や微小部・In-situ測定など、幅広い粉末X線回折測定が可能です。 - 広角粉末X線回折プロファイルをわずか数分で測定
高分解能・高速1次元X線検出器D/teX Ultra 250を搭載したエントリーモデルは、高速集中法測定に対応しています。バックグラウンドレベルを抑えた測定が可能で、強度積算効果により微量成分の検出も容易です。 - 2次元X線回折測定で拡がる世界
ハイブリッド型多次元ピクセル検出器HyPix-400を搭載した上位モデルは、微小部やIn-situ測定に対応しています。さらに、粒径や配向といった試料状態の情報が容易に取得できます。今まで気づかなかったことが、粉末X線回折測定で得られる知見の幅を大きく拡げます。 - あらゆる測定シーンに対応
光学系選択ユニット(Cross Beam Optics)と光学系・試料位置自動調整プログラムが、簡単、かつ迅速な光学系切り替えを実現します。分析の目的や試料の形状jに応じて、最適な光学系・アタッチメントを選択できます。 - さまざまなアプリケーションを実現
反射法・透過法による測定、ポリキャピラリを用いた微小領域測定、小角X線散乱測定、残留応力・極図形測定など、さまざまなアプリケーションを実現する多彩な光学系配置を用意しました。SmartLab SEはそれらの光学系調整も自動で実現します。 - 統一された操作性によるスムーズな分析環境を実現
「SmartLab Studio II」により、分析に必要な光学系管理や測定といった装置制御からデータ解析まで、一つのソフトウェア上で行えます。光学系のセンシング、ガイダンス機能、フローバーによるナビゲーションなど、ユーザーの使い勝手が大きく向上しています。 - 豊富なアタッチメント・試料ホルダー
6試料自動交換機、10試料自動交換機、キャピラリ回転試料台、αβアタッチメント、電池セルアタッチメント、各種温調アタッチメント、汎用雰囲気セパレーター、無反射試料ホルダー、透過法用試料ホルダーなどを用意しています。
粉末試料のプロファイル測定や微小部・In-situ測定など、幅広い粉末X線回折測定を誰でも分かりやすく行えるようにした全自動多目的X線回折装置です。リガクの分析ノウハウを凝縮した「ガイダンス」機能を搭載し、究極の自動化を実現。簡単に最高の測定結果が得られます。
1次元検出器を搭載した集中法光学系専用のエントリーモデル、2次元検出器を搭載し、微小部・In-situ測定にも対応した上位モデルからお選びいただけます。
SmartLab シリーズ システム統合ソフトウェア SmartLab Studio II
測定と解析がひとつになった統合分析ソフトウェア
SmartLab Studio IIは、SmartLab シリーズに必要なすべての測定と解析アプリケーションがひとつにまとめられた統合分析ソフトウェアです。ソフトウェアの起動時間やログインの回数などが最小限に抑えられ、測定と各種解析をワンクリックで切り替えることができ、無駄な時間を一切作らずに分析に集中することができます。レイアウトを変更すれば、測定をリアルタイムでモニタしながら、解析を行うことも可能です。

自動化を極める“ユーザーガイダンス”
リガクのノウハウを結集した「ユーザーガイダンス」は、最高の測定結果へ導くための機能です。各アプリケーションに最適な光学系を選択し、自動で光学系調整を行います。また、複雑な測定を行うための試料位置調整条件や測定条件を自動で設定します。パッケージと呼ばれる自動化されたシーケンスには、測定を実行するために必要なすべての情報が登録されています。また、装置メンテナンス用のパッケージも用意されており、たとえばX線管球交換後の光学系や検出器の調整を、すべて自動で行うことが可能です。ユーザー自身によるパッケージの作成も可能です。作成されたパッケージはユーザー定義のパッケージとして保存され、いつでも選択、実行が可能です。
解析アプリケーション
これまで同様、X線分析に不慣れな初心者でも最高の解析を行うことができるように、ほとんどの解析条件がデータに応じて設定されるようになっています。SmartLab Studio IIではさらに、X線分析の上級者の方々にも満足していただけるよう、様々なパラメータが用意されており、細かい解析条件の設定が可能になっています。統合ソフトウェアであるがゆえ、ユーザー管理機能、材料データベースなどが完全に共通化され、ソフトウェアの使い方を習得する手間を最小限に抑えることができます。充実したグラフィック機能やレポート作成機能も簡単に使いこなすことができ、解析結果の吟味・評価やプレゼンテーション資料の作成を強力にサポートします。
データベースとネットワークライセンス
測定データや解析結果はデータベースに保存されます。データベースには優れたデータ検索機能、ブラウジング機能、バックアップ機能などが備わっており、例えば、2次元検出器を用いて得られる膨大な数の巨大なサイズの画像データの管理などに威力を発揮します。また、SmartLab Studio IIはネットワークライセンスに対応しています。たとえば、多くのユーザーが同じSmartLab シリーズ システムを使う場合、データベースとネットワークライセンスを組み合わせれば、膨大な数のデータの一括管理(集中管理)を容易に行うことができます。
6試料自動交換アタッチメント ASC-6 |
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10試料自動交換アタッチメント ASC-10 |
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キャピラリー回転アタッチメント |
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βアタッチメント |
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φ アタッチメント |
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RxRy & φアタッチメント |
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a-β アタッチメント |
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χ-φ アタッチメント |
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XY-20 mm アタッチメントヘッド |
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XY-4インチ アタッチメントヘッド |
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電池セルアタッチメント |
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高温アタッチメント HTK 1200N | HTK1200N キャピラリ |
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HTK 1200Nは、バルク試料を最高温度1200℃まで測定可能なアタッチメントです。傍熱加熱により試料を精度よく昇温させることが可能です。 | ![]() |

- WPPF法とRIR法を用いた定量結果の違い ~ 配向を持つ試料の定量分析 ~
- 1 mm以下の微小領域の測定 ~ アスベストは蛇紋岩に含まれているのか? ~
- 酸化鉄の定性・定量分析
- メソポーラスシリカの構造を明らかにする
- リチウムイオン電池正極材料の充放電に伴う構造変化のその場観察
- 天然鉱物中に含まれる0.5 mass%未満のアスベストの測定
- 平行ビーム光学系による赤外線加熱高温装置を用いた格子定数の温度依存性評価
- 高速一次元検出器D/teX Ultra2による鉄系試料中の微小ピークの検出
- 圧延板の結晶方位解析
- 極点解析におけるDefocus補正
- ポリイミドフィルム中の銅ナノ粒子の粒子径分布測定
- 酸化亜鉛ナノ粒子の結晶子サイズ分布解析
- 原薬中の微量非晶質成分の高感度測定
- 錠剤中の疑似多形不純物の非破壊測定
- 高分子材料の方位解析
- 金ナノ粒子の粒子径分布解析
- 多孔質物質(メソポーラスシリカ)の細孔径分布解析
- 高速一次元検出器を用いた微量結晶多形成分の定量
- 粗大結晶粒をもつ試料の結晶方位測定
- X線小角散乱法によるサブナノ金粒子の粒子径分布
- 粒子径によって異なる蛍光発光スペクトルを示すCdSeナノ粒子の粒子径分布
- 多目的試料高温装置を用いた無機物質のIn-situ測定
- Ptナノ粒子の水素導入前後における粒径分布・結晶子サイズ解析
- 結晶方位分布(ODF)解析によるCu配線膜の評価
