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お問い合わせ全自動多目的Ｘ線回折装置 SmartLab SE
- 経験がなくてもさまざまな粉末Ｘ線回折測定ができる
強力なユーザーガイダンス機能を備えたＸ線分析統合ソフトウェア「SmartLab Studio II」が、測定から解析までを支援します。リガクの分析ノウハウに基づいて、ソフトウェアが最適な光学系を提案し、光学系の調整や測定条件の設定を自動で行います。粉末プロファイル測定や微小部・In-situ測定など、幅広い粉末Ｘ線回折測定が可能です。 - 広角粉末Ｘ線回折プロファイルをわずか数分で測定
高分解能・高速1次元Ｘ線検出器D/teX Ultra 250を搭載したエントリーモデルは、高速集中法測定に対応しています。バックグラウンドレベルを抑えた測定が可能で、強度積算効果により微量成分の検出も容易です。 - 2次元Ｘ線回折測定で拡がる世界
ハイブリッド型多次元ピクセル検出器HyPix-400を搭載した上位モデルは、微小部やIn-situ測定に対応しています。さらに、粒径や配向といった試料状態の情報が容易に取得できます。今まで気づかなかったことが、粉末Ｘ線回折測定で得られる知見の幅を大きく拡げます。 - あらゆる測定シーンに対応
光学系選択ユニット（Cross Beam Optics）と光学系・試料位置自動調整プログラムが、簡単、かつ迅速な光学系切り替えを実現します。分析の目的や試料の形状jに応じて、最適な光学系・アタッチメントを選択できます。 - さまざまなアプリケーションを実現
反射法・透過法による測定、ポリキャピラリを用いた微小領域測定、小角Ｘ線散乱測定、残留応力・極図形測定など、さまざまなアプリケーションを実現する多彩な光学系配置を用意しました。SmartLab SEはそれらの光学系調整も自動で実現します。 - 統一された操作性によるスムーズな分析環境を実現
「SmartLab Studio II」により、分析に必要な光学系管理や測定といった装置制御からデータ解析まで、一つのソフトウェア上で行えます。光学系のセンシング、ガイダンス機能、フローバーによるナビゲーションなど、ユーザーの使い勝手が大きく向上しています。 - 豊富なアタッチメント・試料ホルダー
6試料自動交換機、10試料自動交換機、キャピラリ回転試料台、αβアタッチメント、電池セルアタッチメント、各種温調アタッチメント、汎用雰囲気セパレーター、無反射試料ホルダー、透過法用試料ホルダーなどを用意しています。
粉末試料のプロファイル測定や微小部・In-situ測定など、幅広い粉末Ｘ線回折測定を誰でも分かりやすく行えるようにした全自動多目的Ｘ線回折装置です。リガクの分析ノウハウを凝縮した「ガイダンス」機能を搭載し、究極の自動化を実現。簡単に最高の測定結果が得られます。
1次元検出器を搭載した集中法光学系専用のエントリーモデル、2次元検出器を搭載し、微小部・In-situ測定にも対応した上位モデルからお選びいただけます。
SmartLab SEシステム統合ソフトウェア SmartLab Studio II
測定と解析がひとつになった統合分析ソフトウェア
SmartLab Studio IIは、SmartLab SEに必要なすべての測定と解析アプリケーションがひとつにまとめられた統合分析ソフトウェアです。ソフトウェアの起動時間やログインの回数などが最小限に抑えられ、測定と各種解析をワンクリックで切り替えることができ、無駄な時間を一切作らずに分析に集中することができます。レイアウトを変更すれば、測定をリアルタイムでモニタしながら、解析を行うことも可能です。
自動化を極める“ユーザーガイダンス”
リガクのノウハウを結集した「ユーザーガイダンス」は、最高の測定結果へ導くための機能です。各アプリケーションに最適な光学系を選択し、自動で光学系調整を行います。また、複雑な測定を行うための試料位置調整条件や測定条件を自動で設定します。パッケージと呼ばれる自動化されたシーケンスには、測定を実行するために必要なすべての情報が登録されています。また、装置メンテナンス用のパッケージも用意されており、たとえばＸ線管球交換後の光学系や検出器の調整を、すべて自動で行うことが可能です。ユーザー自身によるパッケージの作成も可能です。作成されたパッケージはユーザー定義のパッケージとして保存され、いつでも選択、実行が可能です。
解析アプリケーション
これまで同様、X線分析に不慣れな初心者でも最高の解析を行うことができるように、ほとんどの解析条件がデータに応じて設定されるようになっています。SmartLab Studio IIではさらに、X線分析の上級者の方々にも満足していただけるよう、様々なパラメータが用意されており、細かい解析条件の設定が可能になっています。統合ソフトウェアであるがゆえ、ユーザー管理機能、材料データベースなどが完全に共通化され、ソフトウェアの使い方を習得する手間を最小限に抑えることができます。充実したグラフィック機能やレポート作成機能も簡単に使いこなすことができ、解析結果の吟味・評価やプレゼンテーション資料の作成を強力にサポートします。
データベースとネットワークライセンス
測定データや解析結果はデータベースに保存されます。データベースには優れたデータ検索機能、ブラウジング機能、バックアップ機能などが備わっており、例えば、2次元検出器を用いて得られる膨大な数の巨大なサイズの画像データの管理などに威力を発揮します。また、SmartLab Studio IIはネットワークライセンスに対応しています。たとえば、多くのユーザーが同じSmartLab SEシステムを使う場合、データベースとネットワークライセンスを組み合わせれば、膨大な数のデータの一括管理（集中管理）を容易に行うことができます。
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6試料自動交換アタッチメント ASC-6 |
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10試料自動交換アタッチメント ASC-10 |
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キャピラリー回転アタッチメント |
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βアタッチメント |
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φ アタッチメント |
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RxRy & φアタッチメント |
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a-β アタッチメント |
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χ-φ アタッチメント |
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XY-20 mm アタッチメントヘッド |
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XY-4インチ アタッチメントヘッド |
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電池セルアタッチメント |
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高温アタッチメント HTK 1200N | HTK1200N キャピラリ |
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| HTK 1200Nは、バルク試料を最高温度1200℃まで測定可能なアタッチメントです。傍熱加熱により試料を精度よく昇温させることが可能です。 |  |
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- WPPF法とRIR法を用いた定量結果の違い ～ 配向を持つ試料の定量分析 ～
- 1 mm以下の微小領域の測定 ～ アスベストは蛇紋岩に含まれているのか？ ～
- 酸化鉄の定性・定量分析
- メソポーラスシリカの構造を明らかにする
- リチウムイオン電池正極材料の充放電に伴う構造変化のその場観察
- 天然鉱物中に含まれる0.5 mass%未満のアスベストの測定
- 平行ビーム光学系による赤外線加熱高温装置を用いた格子定数の温度依存性評価
- 高速一次元検出器D/teX Ultra2による鉄系試料中の微小ピークの検出
- 圧延板の結晶方位解析
- 極点解析におけるDefocus補正
- ポリイミドフィルム中の銅ナノ粒子の粒子径分布測定
- 酸化亜鉛ナノ粒子の結晶子サイズ分布解析
- 原薬中の微量非晶質成分の高感度測定
- 錠剤中の疑似多形不純物の非破壊測定
- 高分子材料の方位解析
- 金ナノ粒子の粒子径分布解析
- 多孔質物質（メソポーラスシリカ）の細孔径分布解析
- 高速一次元検出器を用いた微量結晶多形成分の定量
- 粗大結晶粒をもつ試料の結晶方位測定
- Ｘ線小角散乱法によるサブナノ金粒子の粒子径分布
- 粒子径によって異なる蛍光発光スペクトルを示すCdSeナノ粒子の粒子径分布
- 多目的試料高温装置を用いた無機物質のIn-situ測定
- Ptナノ粒子の水素導入前後における粒径分布・結晶子サイズ解析
- 結晶方位分布（ODF）解析によるCu配線膜の評価
Ｘ線回折法を用いた定量分析では、試料の状態や対象成分の濃度などによって定量方法を使い分けます。検量線を用いた方法の場合、標準試料の確保、試料調製や測定の煩雑さが生じることから、現在では、WPPF（Whole Powder Pattern Fitting）法やRIR（Reference Intensity Ratio）法による解析に置き換わりつつあります。・・・・・
建材用モルタル混和材に使用され、蛇に似た縞模様をもつことから命名された蛇紋石には、非アスベストのアンチゴライトとリザルダイトの他にアスベストに分類されるクリソタイルの三つの多形（化学組成は等しいが、結晶構造が異なる物質）が存在します。・・・・・
鉄さびには、おもに赤さびと呼ばれるヘマタイト（Fe2O3）と黒さびと呼ばれるマグネタイト（Fe3O4）、これらの鉄酸化物が存在します。酸化鉄は自然界に豊富に存在し、人体あるいは生態系に及ぼす影響が少なく安価であるため、腐食防止剤・研磨剤・顔料・触媒などさまざまな用途に用いられています。・・・・・
メソポーラスシリカ（MCM-41）は、細孔がヘキサゴナル状に配列した構造を持ち、比表面積が大きいことが特徴で、触媒材料や吸着剤などに用いられています。・・・・・
リチウムイオン電池の寿命を延ばすためには充放電過程での状態の制御が重要であると言われています。そのためには、100%充電状態、放電状態の電極構造を観察するだけでは不充分であり、充電深度・放電深度と電極構造の関係をその場観察することが必要になります。・・・・・
平成18年9月から、労働安全衛生法及び石綿障害予防規則の改正により、アスベストであるトレモライトやクリソタイルを0.1mass%以上含む天然鉱物（タルクやセピオライトなど）の輸入・製造が禁止されました。・・・・・
Ｘ線回折測定によって、材料の結晶構造に基づく結晶相の同定や格子の長さ、原子の座標位置などを評価することができます。したがって、Ｘ線回折法は材料物性の研究には欠かせない分析手法の一つです。・・・・・
高速一次元検出器を用いると、同じ分解能を有する測定条件下で比較した場合、シンチレーションカウンタ（SC）に比べて約100倍の強度が得られます。・・・・・
金属やセラミックスなどは、建築物や飛行機・自動車などをはじめとして、さまざまな分野で使用されていますが、その多くは結晶性材料であり、製造・加工時の変形や熱履歴による局所的な結晶方位の変化（集合組織）を引き起こします。・・・・・
極点測定は、試料の結晶方位やその方位の体積率を算出するための重要な測定手法です。反射極点測定ではα軸（あおり軸）を用いて測定を行いますが、試料をあおることで、光学系の集中点が広がってしまい、スリット幅を固定して測定すると極点図形の外側に向けて測定強度が真の強度に比べて減少します。・・・・・
金属ナノ粒子はその大きさからサイズ効果と呼ばれる現象によって、バルク体とは異なる性質を示します。このとき、粒子の大きさのばらつきを均一化させることにより、優れた特性を発揮させることができます。・・・・・
近年、光触媒を用いた空気の浄化や水の分解に関する研究が盛んになり、特に酸化物半導体は、空気中における過酷な使用条件下でも性質が変化しにくいため、光触媒の素材として有望視されています。・・・・・
有機物の一部では、非晶質は結晶質と比較して不安定な状態であるため、外的要因により容易に結晶質に転移することがあります。特に医薬品の場合、結晶化度の違いは、結晶多形以上に物理化学安定性や溶解性が著しく異なる場合があります。・・・・・
医薬品の錠剤化過程では、原薬が賦形剤として用いられる糖やでんぷんなどと反応したり、打錠時の圧力で脱水反応や多形転移などを生じる場合があります。昨今、錠剤化過程において原薬が元の結晶系を維持しているか否か、多形不純物が生じているか否かを錠剤のまま、できるだけ短時間で確認したいという要求があります。・・・・・
ポリエチレンテレフタレート（PET）やポリプロピレン（PP）、ポリエチレン（PE）などのフィルム状高分子材料は、結晶方位の偏りやその度合い、その特性が決定されます。・・・・・
金属ナノ粒子はサイズ効果によって、バルク体とは異なる性質を示します。このとき、粒子の大きさやそのばらつきを均一化させることにより、優れた特性を発揮させることができます。・・・・・
活性炭やメソポーラスシリカなど、バルク中にたくさんの空孔を有している物質を多孔質物質と呼びます。多孔質物質は多くの空孔があるため比表面積が大きく、吸着能も高くなります。・・・・・
同じ化学式で結晶構造の異なる物質を結晶多形と呼びます。Ｘ線回折プロファイルは測定した物質の結晶構造に依存するため、Ｘ線回折測定は結晶多形の評価に用いられます。・・・・・
極点測定とは、試料の結晶方位やその方位の体積率を算出するための重要な測定手法です。特に体積率を算出するためには、測定強度が真の強度であることが重要になります。・・・・・
Ｘ線小角散乱法を用いることにより、粉末や液体分散微粒子、薄膜中に分布する粒子や空孔のサイズ分布を評価できます。特に、TEM（透過電子顕微鏡：Transmission Electron Microscope）やDLS（動的光散乱法：Dynamic Light Scattering）等では評価困難なサブナノメータの粒子の平均サイズとその分布を評価することが可能です。・・・・・
化合物半導体CdSeナノ粒子はサイズによって蛍光発光スペクトルが異なり、しかも大きな蛍光強度、安定性、単色性をもつため、可視光～紫外光発光材料、ディスプレイ材料、さらに医療用蛍光マーカーなど医療用・生化学用として、活発に研究されています。・・・・・
セラミックスをはじめとした無機材料合成の代表的な手法として、加熱処理による固相反応法があります。これは合成原料混合物を、電気炉などを用いて高温で焼成し、目的の合成物を得る方法です。しかし、この方法では・・・・・
固体高分子形燃料電池（PEFC）は燃料極、固体高分子膜、空気極が一体化した膜/電極接合体（Membrane Electrode Assembly：MEA）の他にガスケットやセパレーターで構成されたセルを複数個つなげた（スタック）ものです。燃料極では水素やメタノールが供給され、触媒反応によりプロトンと電子に分解されます。この反応では・・・・・
金属をはじめとする多くの工業材料の特性と結晶配向には強い関係があるため、配向の方位やその比率を定量的に解析することが重要です。配向を定量的に・・・・・
Rigaku SmartLab SE Multipurpose X-ray diffraction system with built-in intelligent guidance
