試料水平型多目的X線回折装置 Ultima IV

  • ビルドアップ方式
    粉末試料測定専用から薄膜/小角粒径/微小・微量測定用まで、必要に応じて多様なシステムを構築できます。
  • CBO(Cross Beam Optics)/クロスビームオプティクス
    集中法/多層膜ミラー平行ビーム光学系の切替が容易で、集中法・平行ビーム・小角・微小部・高分解能の5種類の光学系に対応できるCBOユニットを搭載可能です。特許(日本):第3548556号
  • 新型微小部光学系
    微小・微量測定に威力を発揮する新型微小部光学系を装備可能です。
  • 新型高速X線検出器 D/teX Ultra
    当社従来比100倍の高速測定ができる、高計数率・高エネルギー分解能・低ノイズの新型高速X線検出器を搭載可能です。
  • 人間工学に基いた設計
    試料セット位置を下げ、ドア開口部から試料までのアクセス距離を大幅に縮小したことにより、操作性が大きく向上。試料交換、アタッチメントの着脱はもちろんのこと、光学系の交換も極めて容易です。
  • コンパクト設計
    従来機に比較して容積比50%、重量比80%。省スペース・軽量で、設置場所を選びません。
  • 安全性
    最新の国際安全規格に則り、インターロック方式によるX線に対する安全性を確保、また、装置正面右下に配置された緊急停止スイッチを装備しています。

粉末試料測定専用のエントリーモデルからハイエンドの薄膜試料測定システムまでを、ビルドアップ(機能拡張)方式により構築可能な、試料水平型多目的X線回折装置 です。薬品、セラミックス、触媒などの工業材料の品質管理から、有機薄膜、磁性材、半導体薄膜などの先端材料の研究開発まで、幅広く支援します。

  • X線反射率法による薄膜評価
  • 表面が平坦な物質の表面すれすれにX線を入射すると、X線に対する物質の屈折率は1よりもわずかに小さいため、試料表面で全反射を起こします。また、表面や膜の界面で反射され、試料表面への入射角度を連続的に変化させると、互いに干渉したX線の強度は振動として観測されます。・・・・・
  • ホイスラー合金薄膜の熱処理による構造変化
  • ホイスラー合金は磁気抵抗素子、固体磁気記録素子などへの応用が期待される材料で、熱処理による結晶構造の変化や表面・界面状態の変化を調べることが重要です。・・・・・
  • 深さ方向の変化を非破壊で見る ~InN/GaN/GaAsの場合~
  • インプレーン測定では、薄膜試料の表面にX線をすれすれに入射します。この時に、入射する角度を精密に制御することでX線が試料内部に侵入する深さを制御することができます。・・・・・
  • 薄膜の3次元的な配向状態を調べる ~2&theta/&theta測定とインプレーン測定を組み合わせた配向評価~
  • インプレーン測定では、薄膜試料の表面にX線をすれすれに入射します。この時に、入射する角度を精密に制御することでX線が試料内部に侵入する深さを制御することができます。・・・・・
  • DVD記録層の結晶構造評価
  • 試料表面すれすれにX線を入射するインプレーン回折法では、厚さ1 nm程度の非常に薄い膜でも回折測定が可能です。これにより、多結晶性薄膜試料の結晶構造や格子定数、結晶子の大きさなどがわかります。・・・・・
  • WPPF法とRIR法を用いた定量結果の違い ~ 配向を持つ試料の定量分析 ~
  • X線回折法を用いた定量分析では、試料の状態や対象成分の濃度などによって定量方法を使い分けます。検量線を用いた方法の場合、標準試料の確保、試料調製や測定の煩雑さが生じることから、現在では、WPPF(Whole Powder Pattern Fitting)法やRIR(Reference Intensity Ratio)法による解析に置き換わりつつあります。・・・・・
  • 1 mm以下の微小領域の測定 ~ アスベストは蛇紋岩に含まれているのか? ~
  • 建材用モルタル混和材に使用され、蛇に似た縞模様をもつことから命名された蛇紋石には、非アスベストのアンチゴライトとリザルダイトの他にアスベストに分類されるクリソタイルの三つの多形(化学組成は等しいが、結晶構造が異なる物質)が存在します。・・・・・
  • 酸化鉄の定性・定量分析
  • 鉄さびには、おもに赤さびと呼ばれるヘマタイト(Fe2O3)と黒さびと呼ばれるマグネタイト(Fe3O4)、これらの鉄酸化物が存在します。酸化鉄は自然界に豊富に存在し、人体あるいは生態系に及ぼす影響が少なく安価であるため、腐食防止剤・研磨剤・顔料・触媒などさまざまな用途に用いられています。・・・・・
  • メソポーラスシリカの構造を明らかにする
  • メソポーラスシリカ(MCM-41)は、細孔がヘキサゴナル状に配列した構造を持ち、比表面積が大きいことが特徴で、触媒材料や吸着剤などに用いられています。・・・・・
  • リチウムイオン電池正極材料の充放電に伴う構造変化のその場観察
  • リチウムイオン電池の寿命を延ばすためには充放電過程での状態の制御が重要であると言われています。そのためには、100%充電状態、放電状態の電極構造を観察するだけでは不充分であり、充電深度・放電深度と電極構造の関係をその場観察することが必要になります。・・・・・
  • 天然鉱物中に含まれる0.5 mass%未満のアスベストの測定
  • 平成18年9月から、労働安全衛生法及び石綿障害予防規則の改正により、アスベストであるトレモライトやクリソタイルを0.1mass%以上含む天然鉱物(タルクやセピオライトなど)の輸入・製造が禁止されました。・・・・・
  • 平行ビーム光学系による赤外線加熱高温装置を用いた格子定数の温度依存性評価
  • X線回折測定によって、材料の結晶構造に基づく結晶相の同定や格子の長さ、原子の座標位置などを評価することができます。したがって、X線回折法は材料物性の研究には欠かせない分析手法の一つです。・・・・・
  • 高速一次元検出器D/teX Ultra2による鉄系試料中の微小ピークの検出
  • 高速一次元検出器を用いると、同じ分解能を有する測定条件下で比較した場合、シンチレーションカウンタ(SC)に比べて約100倍の強度が得られます。・・・・・
  • 圧延板の結晶方位解析
  • 金属やセラミックスなどは、建築物や飛行機・自動車などをはじめとして、さまざまな分野で使用されていますが、その多くは結晶性材料であり、製造・加工時の変形や熱履歴による局所的な結晶方位の変化(集合組織)を引き起こします。・・・・・
  • 極点解析におけるDefocus補正
  • 極点測定は、試料の結晶方位やその方位の体積率を算出するための重要な測定手法です。反射極点測定ではα軸(あおり軸)を用いて測定を行いますが、試料をあおることで、光学系の集中点が広がってしまい、スリット幅を固定して測定すると極点図形の外側に向けて測定強度が真の強度に比べて減少します。・・・・・
  • ポリイミドフィルム中の銅ナノ粒子の粒子径分布測定
  • 金属ナノ粒子はその大きさからサイズ効果と呼ばれる現象によって、バルク体とは異なる性質を示します。このとき、粒子の大きさのばらつきを均一化させることにより、優れた特性を発揮させることができます。・・・・・
  • 酸化亜鉛ナノ粒子の結晶子サイズ分布解析
  • 近年、光触媒を用いた空気の浄化や水の分解に関する研究が盛んになり、特に酸化物半導体は、空気中における過酷な使用条件下でも性質が変化しにくいため、光触媒の素材として有望視されています。・・・・・
  • 原薬中の微量非晶質成分の高感度測定
  • 有機物の一部では、非晶質は結晶質と比較して不安定な状態であるため、外的要因により容易に結晶質に転移することがあります。特に医薬品の場合、結晶化度の違いは、結晶多形以上に物理化学安定性や溶解性が著しく異なる場合があります。・・・・・
  • 錠剤中の疑似多形不純物の非破壊測定
  • 医薬品の錠剤化過程では、原薬が賦形剤として用いられる糖やでんぷんなどと反応したり、打錠時の圧力で脱水反応や多形転移などを生じる場合があります。昨今、錠剤化過程において原薬が元の結晶系を維持しているか否か、多形不純物が生じているか否かを錠剤のまま、できるだけ短時間で確認したいという要求があります。・・・・・
  • 高分子材料の方位解析
  • ポリエチレンテレフタレート(PET)やポリプロピレン(PP)、ポリエチレン(PE)などのフィルム状高分子材料は、結晶方位の偏りやその度合い、その特性が決定されます。・・・・・
  • 金ナノ粒子の粒子径分布解析
  • 金属ナノ粒子はサイズ効果によって、バルク体とは異なる性質を示します。このとき、粒子の大きさやそのばらつきを均一化させることにより、優れた特性を発揮させることができます。・・・・・
  • 多孔質物質(メソポーラスシリカ)の細孔径分布解析
  • 活性炭やメソポーラスシリカなど、バルク中にたくさんの空孔を有している物質を多孔質物質と呼びます。多孔質物質は多くの空孔があるため比表面積が大きく、吸着能も高くなります。・・・・・
  • 高速一次元検出器を用いた微量結晶多形成分の定量
  • 同じ化学式で結晶構造の異なる物質を結晶多形と呼びます。X線回折プロファイルは測定した物質の結晶構造に依存するため、X線回折測定は結晶多形の評価に用いられます。・・・・・
  • 粗大結晶粒をもつ試料の結晶方位測定
  • 極点測定とは、試料の結晶方位やその方位の体積率を算出するための重要な測定手法です。特に体積率を算出するためには、測定強度が真の強度であることが重要になります。・・・・・
  • X線小角散乱法によるサブナノ金粒子の粒子径分布
  • X線小角散乱法を用いることにより、粉末や液体分散微粒子、薄膜中に分布する粒子や空孔のサイズ分布を評価できます。特に、TEM(透過電子顕微鏡:Transmission Electron Microscope)やDLS(動的光散乱法:Dynamic Light Scattering)等では評価困難なサブナノメータの粒子の平均サイズとその分布を評価することが可能です。・・・・・
  • 粒子径によって異なる蛍光発光スペクトルを示すCdSeナノ粒子の粒子径分布
  • 化合物半導体CdSeナノ粒子はサイズによって蛍光発光スペクトルが異なり、しかも大きな蛍光強度、安定性、単色性をもつため、可視光~紫外光発光材料、ディスプレイ材料、さらに医療用蛍光マーカーなど医療用・生化学用として、活発に研究されています。・・・・・
  • 多目的試料高温装置を用いた無機物質のIn-situ測定
  • セラミックスをはじめとした無機材料合成の代表的な手法として、加熱処理による固相反応法があります。これは合成原料混合物を、電気炉などを用いて高温で焼成し、目的の合成物を得る方法です。しかし、この方法では・・・・・
  • Ptナノ粒子の水素導入前後における粒径分布・結晶子サイズ解析
  • 固体高分子形燃料電池(PEFC)は燃料極、固体高分子膜、空気極が一体化した膜/電極接合体(Membrane Electrode Assembly:MEA)の他にガスケットやセパレーターで構成されたセルを複数個つなげた(スタック)ものです。燃料極では水素やメタノールが供給され、触媒反応によりプロトンと電子に分解されます。この反応では・・・・・
  • 結晶方位分布(ODF)解析によるCu配線膜の評価
  • 金属をはじめとする多くの工業材料の特性と結晶配向には強い関係があるため、配向の方位やその比率を定量的に解析することが重要です。配向を定量的に・・・・・




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