卓上型全反射蛍光X線分析装置 NANOHUNTER II

  • 高強度・高感度測定
    全自動光軸調整システムや600Wの高出力X線源とミラー、大面積SSDにより、高強度・高感度測定を可能にしました。Cdの検出下限は2ppb。液中のAsやSeの場合、0.8ppb以下の検出限界を実現しています。
  • 複数の励起条件を選択可能
    標準励起条件(Moターゲット)ではAs、Pbなどの有害元素を効率良く励起できます。
    2重構造多層膜により高エネルギー励起条件(約30 keV)も使用でき、スペクトルの重なりの少ないCd、AgなどのK線領域を測定線に用いることが可能となりました。
  • 入射角度可変機構により角度分解測定を実現
    入射角度を任意に変更する機構により、表面近傍のみならず、深さ方向の元素情報を得ることが可能となりました。また、ナノパーティクルサイズの違いも計測することが可能です。
NANOHUNTER II

封入X線管を使用した卓上型の全反射蛍光X線分析装置です。全反射蛍光X線分析法の採用により、固体試料表面の元素分析を高感度で行うことができます。卓上型でありながら、全自動光軸調整システムを搭載し、基板によらず安定した分析を行うことができます。
また、入射X線角度を変更できるので、表面近傍のみならず、深さ方向の元素情報を得ることが可能です。





ステップ1 入力画面
入力必須印は、必須項目です。

お問い合わせ内容

 入力必須お問い合わせの種類
 入力必須お問い合わせ製品

(Ctrlボタンを押しながら
複数の選択が可能です)




上記以外の製品をお問い合わせに追加する場合、下記より装置の種類をお選び下さい。
 入力必須お問い合わせ内容
  (1000文字まで)

ご連絡先入力

 入力必須ご勤務先/学校名
例)株式会社リガク
 入力必須ご所属
例)研究開発部第一課
 入力必須お名前
例)理学 太郎
 入力必須お名前フリガナ
  (全角カタカナ)
例)リガク タロウ
 入力必須E-mailアドレス
例)info@rigaku.co.jp(英数字半角)

こちらのアドレスにお問い合わせ内容の確認メールを送らせていただきますので、お間違いのないようご入力願います。
 入力必須 郵便番号
例)196-8666(数字半角)
 入力必須都道府県
 入力必須ご住所
例)昭島市松原町3-9-12
 入力必須電話番号
例)042-545-8111(数字半角)
   Fax番号
例)042-544-9795(数字半角)
   ご意見・ご要望
  (1000文字まで)
その他ご意見・ご要望等がございましたら、こちらにお書き添えください。
ご記入いただいた個人情報は、本件に関するお客様へのご連絡に利用させていただくことがあります。