Instrumento de difração de raio X para bancada

Análise qualitativa e quantitativa de materiais policristalinos

MiniFlex

O MiniFlex de quinta geração é um difratômetro de raio X para fins gerais que pode realizar análises qualitativas e quantitativas de materiais policristalinos. O MiniFlex está disponível em duas variações. Funcionando a 600 watts (tubo de raio X), o MiniFlex 600 é duas vezes mais poderoso que outros modelos de bancada, permitindo uma análise mais rápida e um aumento na produtividade geral. Operando a 300 watts (tubo de raio X), o novo MiniFlex 300 não exige um trocador de calor externo. Cada modelo é projetado para maximizar a flexibilidade em um pacote de bancada.

Idealmente adaptado para análises atuais de XRD em ritmo veloz, o novo MiniFlex de quinta geração oferece velocidade e sensibilidade por meio de avanços tecnológicos inovadores como o detector D/teX opcional de alta velocidade acoplado à nova fonte de raio X 600W. O monocromador opcional de grafite, acoplado ao contador padrão de cintilação, eleva a sensibilidade ao otimizar as relações máximas às basais. Se a resolução for primordial, será possível selecionar cortes de feixes incidentes e difratados para obter a resolução desejada. Para uma alta produtividade da amostra, MiniFlex é o único sistema XRD de bancada com um trocador de amostras disponível. Ao ensinar a difração de raio X na faculdade ou na universidade ou a garantia de qualidade industrial de rotina, o MiniFlex oferece desempenho e valor.

Cada MiniFlex é padronizado com a versão mais recente de PDXL, um pacote funcional completo de análises de difração de pós da Rigaku. A versão mais recente de PDXL oferece uma funcionalidade nova e importante; incluindo um método de parâmetro fundamental (FP) para um cálculo mais exato de pico, uma identificação de fases usando o COD [Crystallography Open Database (Banco de Dados Abertos de Cristalografia)] e um assistente para análises ab initio de estruturais cristalinas.

O MiniFlex original, lançado em 1973, foi desenvolvido para capacitar um usuário novato a produzir resultados, com um instrumento XRD compacto, comparáveis àqueles obtidos por uma pessoa treinada em difração. O novo MiniFlex está baseado em características que o tornaram popular durante muitos anos - incluindo o tamanho compacto e o design robusto - permitindo a instalação em um espaço pequeno com uma operação fácil de usar e um custo de propriedade muito baixo.

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Visão geral:

  • Novo design de quinta geração para 2012
  • Estrutura de carcaça de proteção de radiação segura
  • Corte variável de feixes incidentes
  • Instalação simples e treinamento de usuário
  • Sistema de goniometria alinhado com a fábrica
  • Operação em laptops

Medições:

  • Identificação de fases
  • Quantificação de fases
  • Percentagem (%) de cristalinidade
  • Tamanho e tipo de cristal
  • Refinamento do parâmetro Lattice
  • Refinamento de Rietveld
  • Estrutura molecular

Opções:

  • Amostrador automático de 6 posições
  • Monocromador de grafite
  • Detector de fita de silicone de alta velocidade
  • Suporte de amostra sensível ao ar
  • Caixa para transporte

MiniFlex accessories

ASC-8 : automatic 8 position sample changer with spinner
Automatic 8-position sample changer is compact and rugged. Integrated spinning improves particle statistics in polycrystalline sample measurements. Fully automatic alignment. Programmable.
 
Sample holders
Various sample holder are available to meet the specific needs of particular applications.
 
Specimen rotation attachment
The sample rotation stage allows continuous rotation at variable
speed of the sample holder to improve particle statistics during
powder diffraction measurements.
 
Graphite monochromator for D/teX Ultra
The graphite monochromator optimizes sensitivity by lowering the background level. It improves signal-to-noise by eliminating fluorescence from Mn, Fe, Co, and Ni containing materials.
 
Air-sensitive sample holder
An enclosed sample holder is available for users studying materials that might degrade in the presence of oxygen.
 
D/teX Ultra high speed detector
This 1D silicon strip detector is optionally available for fast, high-resolution scanning.
 
BTS 500 high temperature attachment
The high temperature attachment can heat a sample to do in-situ powder diffraction measurements under high temperature conditions from ambient to 500°C.
 
HyPix-400 MF: 2D HPAD detector
Advanced hybrid array pixel detector (HPAD) with zero background noise, an active area of ​​400 mm2, spatial resolution of 100 μm, and maximum count rate of 106 cps/pixel or more. HyPix-400 can operate in 0D, 1D or 2D modes.

PDXL is a one-stop full-function powder diffraction analysis software suite. The modular design, advanced engine and user-friendly GUI have been satisfying both experienced and novice users since PDXL was released in 2007.

PDXL provides various analysis tools such as automatic phase identification, quantitative analysis, crystallite-size analysis, lattice constants refinement, Rietveld analysis, ab initio structure determination, etc.

Fundamental parameter method

The peak shape in a powder diffraction pattern would appear to be a delta function if measured under ideal conditions. In reality, the peak shape changes depending on a number of measurement conditions: wavelength distribution of the source, optical systems, slit conditions, crystallite size and strain, and so on. The peak shapes obtained from measurements made under real-world conditions are described using an empirical function such as a split pseudo-Voigt function, or a split Pearson VII function which has a good agreement with the obtained peak shapes. The fundamental parameter method (FP method) is a method to calculate peak shape by convolution of the shapes caused by all the instrumental and sample conditions.

Phase identification using COD

The Crystallography Open Database (COD) is a free, public-domain database of the crystal structures published in International Union of Crystallography, Mineralogical Society of America and so on. PDXL can incorporate both ICDD/PDF-2 and COD to perform automatic phase identification, adding the COD library of over 150,000 crystal structures to PDXL 2’s already substantial capabilities.
Wizard for ab initio crystal structure analysis
Recently, there have been many published examples of ab initio crystal structure analysis performed on powder diffraction data. This development is attributed primarily to significant improvements in PC processing speed and in the efficiency of the algorithms used for structure determination.

PDXL has so far provided all of the functions required for ab initio crystal structure analysis, such as indexing, structure determination and structure refinement by the Rietveld method. Now the “Structure Analysis Wizard” is available in PDXL to provide support and guidance for users undertaking the complicated procedure of structure analysis, particularly of organic compounds. This wizard system will make it possible for even the beginner to achieve analytical success

Clustering function
The PDXL clustering feature can group multiple scan data based on the similarity of powder diffraction patterns and peak positions, and displays the grouped data in an easy-to-read tree. This is particularly effective when it comes to classifying and screening the data from a large number of scans.

  • Search/Match analysis with PDF-2 and Crystallography Open Database
  • Quantitative analysis
  • Percent crystallinity
  • Crystallite size and strain
  • Cell refinement
  • Residual stress
  • Indexing
  • Whole pattern profile fitting
  • Ab initio structure solving with wizard