Espectrômetro de fluorescência de raio X dispersivo de comprimento de onda com tubo superior

WDXRF de alto desempenho para uma rápida análise elementar quantitativa

ZSX Primus II

O Rigaku ZSX Primus II oferece uma determinação quantitativa rápida de elementos atômicos grandes e pequenos, desde o berílio (Be) ao urânio (U), em uma ampla variedade de tipos de amostra - com padrões mínimos.

Óptica do tubo superior para uma maior confiabilidade

ZSX Primus II apresenta uma configuração inovadora além da óptica. Nunca mais haverá preocupações com um percurso de feixe contaminado ou com a inatividade devido à manutenção da câmara de amostras. A geometria além da óptica elimina as preocupações com limpeza e eleva o tempo de operação.

Desempenho de baixo Z com mapeamento e análise multiponto

Oferecendo um desempenho superior com a flexibilidade de análise de amostras mais complexas, o ZSX Primus II apresenta um tubo de 30 mícron, a janela mais fina disponível na indústria, para limites excepcionais de detecção de elemento leve (baixo Z). Combinado ao pacote de mapeamento mais avançado para detectar a homogeneidade e as inclusões, o ZSX Primus II permite uma fácil investigação detalhada das amostras que fornecem insights analíticos que não são facilmente obtidos por outras metodologias analíticas. Uma análise multiponto disponível também ajuda a eliminar erros de amostragem em materiais não homogêneos.

Parâmetros fundamentais de SQX com um software de varredura EZ

A varredura EZ permite que os usuários analisem amostras desconhecidas sem uma configuração prévia. Esse recurso que economiza tempo exige apenas alguns cliques do mouse e um nome de amostra que será inserido. Combinado ao software de parâmetros fundamentais de SQX, fornece o os resultados de XRF mais exatos e rápidos possíveis. SQX é capaz de corrigir automaticamente todos os efeitos de matriz, incluindo as sobreposições de linhas. SQX também pode corrigir um efeito secundário de excitação por fotoelétrons (elementos leves e ultra-leves), variando atmosferas, impurezas e diferentes tamanhos de amostra. O aumento da exatidão é obtido ao usar uma biblioteca de correspondência e programas de análise de varredura perfeita.

ZSX Primus II
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Features

  • Análise de elementos que vão do Be ao U
  • A óptica do tubo superior diminui os problemas de contaminação
  • A pequena base usa um espaço menos valioso de laboratório
  • Microanálise para analisar amostras tão pequenas quanto 500 μm
  • O tubo de 30 μ oferece um desempenho superior do elemento leve
  • Recurso de mapeamento para topografia/distribuição elementares
  • A vedação de hélio significa que a óptica está sempre sob vácuo

ZSX Primus II specifications

General
  Elemental coverage ₄Be through ₉₂U
  Optics Wavelength dispersive, sequential, tube above
X-ray generator
  X-ray tube End window, Rh-anode, 3kW or 4 kW, 60kV
  HV power supply High frequency inverter, ultra-high stability
  Cooling Internal water-to-water heat exchanger
Spectrometer
  Sample changer 48 positions standard, 96 optional
  Sample inlet APC automatic pressure controller
  Maximum sample size 51 mm (diameter) by 30 mm (high)
  Sample rotation speed 30 rpm
  Primary X-ray filters Al25, Al125, Ni40 and Ni400
  Beam collimators 6 auto-selectable diameters: 35, 30, 20, 10, 1 and 0.5 mm
  Divergence slit 3 auto-selectable: standard, high, and coarse (optional) resolutions
  Receiving slit For SC and for F-PC detectors
  Goniometer θ – 2θ independent drive mechanism
  Angular range SC: 5-118°, F-PC: 13-148°
  Angular reproducibility Ultra-high precision
  Continuous scan 0.1 - 240°/min
  Crystal changer 10 crystals, automatic mechanism
  Vacuum system 2 pump high-speed system w/ (optional) powder trap
  He flush system Optional, with partition
Detector systems
  Heavy element detector Scintillation counter (SC)
  Light element detector Flow proportional counter (F-PC)
  Attenuator In-out automatic exchanger (1/10)
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ZSX Primus II software

Overview:

  • Qualitative analysis:
    • Automatic peak identification
    • Smoothing, background subtraction
  • Quantitative analysis:
    • Matrix correction: Lachance-Traill, DeJohngh, JIS, etc.
    • Linear, quadratic and cubic regression, multiple line
    • Fundamental parameter method
  • EZ scan (qualitative)
  • Application template
  • Analysis area automatic selection (mask size detection)
  • Peak deconvolution (function and standard profile)
  • Background fitting (multi-point function fitting, area designation)
  • Fixed precision analysis
  • Help function
  • E-mail forwarding function
  • Universal standard sample
  • Analysis simulation program (analysis depth evaluation, etc.)

Optional:

  • SQX program
    • EZ scan (SQX)
    • Fixed angle measurement
    • Thin-film analysis
    • Theoretical overlap correction
    • Drift correction library
    • Photoelectron FP method
    • He atmosphere correction
    • Sample film correction
      • Impurity correction
      • Matching library
      • SQX scatter FP method
      • Material judgment
  • Quantitative scatter FP method
  • Quantitative FP theoretical overlap correction
  • Fusion disk correction (flux evaporation)
  • Charge correction
  • Program operation
    • Time preset analysis
    • Energy saving
    • Auto power off
  • Sample observation mechanism
  • Point/mapping function
  • Remote control function (VCP)