Исследование целлюлозной пленкирентгеновской рефлектометрией (XRR)

Исследование целлюлозной пленкирентгеновской рефлектометрией (XRR)

Тонкая пленка целлюлозы, нанесенная на неорганическую подложку, обеспечивает превосходную модель поверхности для изучения молекулярных явлений, происходящих в ходе различных процессов затрагивающих целлюлозу. Примеры включают в себя взаимодействие мыла, моющих средств, парфюмерии и умягчителей с волокнами целлюлозы. Толщина, шероховатости и плотности этих пленок являются важными параметрами для изучения таких управляемых процессов.

На рисунке 1 показаны данные рентгеновских профилей XRR тонкопленочного образца целлюлозы, собранные на многоцелевой дифракционной системе Ultima IV. Результаты фитирования нелинейным методом наименьших квадратов структуры модели к экспериментальным данным показаны на рисунке 2. Автоматическое фитирование уточняет толщины, шероховатость, и значения плотности структуры модели до тех пор, пока хороее согласие с экспериментальными данными не будет достигнуто. При успешном фитировании, окончательные значения толщины, шероховатости и плотности структуры модели могут быть отнесены к реальному образцу.

X-ray reflectivity (XRR) data
Рисунок 1

Results of a non-linear least squares fit of a model structure
Рисунок 2