Настольный рентгеновский дифрактометр

Качественный и количественный анализ поликристаллических материалов

MiniFlex

2012 год знаменателен новейшими дополнениями к серии настольных рентгеновских дифракционных анализаторов MiniFlex. Новый 5-го поколения MiniFlex – многофункциональный дифрактометр широкого назначения, предназначенный для проведения качественного и количественного фазового анализа поликристаллических материалов. Теперь MiniFlex доступен в двух модификациях. Благодаря мощности трубки 600 Вт, MiniFlex 600 становится вдвое мощнее других настольных моделей. Это позволяет проводить быстрее анализ и повысить общую производительность при проведении исследований. Другая модель MiniFlex 300, благодаря малой мощности (мощность рентгеновской трубки 300 Вт) не нуждается в использовании внешней системы охлаждения. Новые возможности MiniFlex обеспечат вам максимум гибкости при проведении анализа.

Новая модель дифрактометра 5-го поколения MiniFlex идеально подходит для проведения быстро развивающегося сегодня анализа методом рентгеновской дифрактометрии. Дифрактометр обеспечивает скорость и чувствительность с помощью инновационных технологических усовершенствований, таких как высокоскоростной D/teX детектор (опция) в сочетании с новым 600 Вт источником рентгеновского излучения. Графитовый монохроматор (опция) в сочетании со стандартным сцинтилляционным счетчиком увеличивает чувствительность за счет оптимизации соотношения сигнал-фон. Если разрешение имеет первостепенное значение, варьируемые щели на падающий и дифрагированный пучок позволят вам добиться необходимого разрешения. Для обеспечения высокой пропускной способности, MiniFlex - единственный настольный рентгеновский дифрактометр, снабженный автоматическим загрузчиком образцов. Обучение рентгеновской дифракции в колледжах и университетах или ежедневный контроль качества на производстве, - MiniFlex обеспечит производительность и хорошие данные.

Каждый дифрактометр MiniFlex поставляется с последней версией программного обеспечения PDXL. PDXL - пакет программ с полным набором функций для обработки данных порошковой дифрактометрии, являющихся собственной разработкой компании Ригаку. Последняя версия PDXL включает в себя несколько новых важных функций, в частности, метод Фундаментальных Параметров для более точного определения положения пика, автоматизированный качественный рентгенофазовый анализ с использованием открытой кристаллографической базы данных (COD) и пользовательский интерфейс для расшифровки структуры исходя из первых принципов (ab initio).

Представленный компанией Ригаку в 1973 году на рынке MiniFlex, был разработан с целью предоставления начинающему пользователю возможности получать такие же надежные результаты, какие получает опытный специалист, используя стандартный большой многоцелевой дифрактометр. Новый дифрактометр MiniFlex сохраняет характеристики, сделавшие его популярным на протяжении многих лет, включая компактные размеры и прочную конструкцию. Это позволяет устанавливать инструмент в ограниченном пространстве, он прост в работе и обслуживании и с очень низкой стоимостью владения.

Ask for more info

Обзор:

  • Новый дизайн 5-ого поколения для 2012 года
  • Компактный, предохраняющий от излучения корпус
  • Варьируемые щели на падающий пучок
  • Простая установка и обучение пользователей
  • Выровненный на заводе гониометр
  • Управление с использованием портативного компьютера
Области применения:
  • Качественный фазовый анализ
  • Количественный фазовый анализ
  • Определение степени кристалличности
  • Определение размера кристаллитов и уровня искажений кристаллической решетки
  • Уточнение параметров решетки
  • Уточнение структуры материала методом Ритвельда
  • Определение молекулярной структуры
Опции:
  • 6-ти позиционный автоматический сменщик образцов
  • Графитовый монохроматор
  • Высокоскоростной кремниевый полосковый детектор
  • Держатель образца с функцией защиты от атмосферы
  • Дорожный футляр

MiniFlex accessories

ASC-8 : automatic 8 position sample changer with spinner
Automatic 8-position sample changer is compact and rugged. Integrated spinning improves particle statistics in polycrystalline sample measurements. Fully automatic alignment. Programmable.
 
Sample holders
Various sample holder are available to meet the specific needs of particular applications.
 
Specimen rotation attachment
The sample rotation stage allows continuous rotation at variable
speed of the sample holder to improve particle statistics during
powder diffraction measurements.
 
Graphite monochromator for D/teX Ultra
The graphite monochromator optimizes sensitivity by lowering the background level. It improves signal-to-noise by eliminating fluorescence from Mn, Fe, Co, and Ni containing materials.
 
Air-sensitive sample holder
An enclosed sample holder is available for users studying materials that might degrade in the presence of oxygen.
 
D/teX Ultra high speed detector
This 1D silicon strip detector is optionally available for fast, high-resolution scanning.
 
BTS 500 high temperature attachment
The high temperature attachment can heat a sample to do in-situ powder diffraction measurements under high temperature conditions from ambient to 500°C.
 
HyPix-400 MF: 2D HPAD detector
Advanced hybrid array pixel detector (HPAD) with zero background noise, an active area of ​​400 mm2, spatial resolution of 100 μm, and maximum count rate of 106 cps/pixel or more. HyPix-400 can operate in 0D, 1D or 2D modes.

PDXL – это пакет программ с полным набором функций для обработки данных порошковой дифрактометрии. Модульная архитектура, расширенные функциональные возможности и дружественный направляющий интерфейс удовлетворят как опытных пользователей, так и новичков.

PDXL предоставляет возможность проведения различного анализа, например, автоматический качественный фазовый анализ, количественный фазовый анализ, определение размера кристаллитов, уточнение параметра решетки, уточнение структуры методом Ритфельда, расшифровку кристаллической структуры Ab initio и т.д.

Метод фундаментальных параметров


Форма пика в дифракционной картине, наблюдаемой при рентгенофазовом исследовании структуры порошковых материалов, имеет форму дельта-функции. На самом деле, форма пика изменяется в зависимости от условий измерения: распределение длин волн источника, оптические системы, используемые щели, размеры кристаллитов и степени искажений кристаллической решетки, и т. д. Экспериментальные профили отражений хорошо аппроксимируются эмпирическими функциями, такими как функции псевдо-Фойгта или Пирсона VII. Метод фундаментальных параметров позволяет рассчитать форму пика, используя свертку функций, отвечающих за инструментальный вклад и образец.

Качественный фазовый анализ с COD


Открытая кристаллографическая база данных (COD) является бесплатной общедоступной базой данных кристаллических структур изданной в Интернациональном объединении кристаллографии, Минералогического общества Америки и т.д. Пакет программ PDXL позволяет использовать одновременно базы данных ICDD/PDF-2 и COD, для проведения автоматического качественного фазового анализа. Дополнительное подключение библиотеки COD, расширяет ваши возможности, добавляя более 150 000 кристаллических структур к уже существующим возможностям пакета PDXL 2.
Пользовательский интерфейс для расшифровки структуры исходя из первый принципов (ab initio)

В последнее время появилось множество опубликованных примеров анализа кристаллической структуры ab initio, проведенного по дифракционным данным от порошковых материалов. Это обусловлено в первую очередь значительным улучшением скорости работы ПК и эффективностью алгоритмов, используемых для определения структуры.

До настоящего времени, пакет программ PDXL предоставлял необходимые для анализа кристаллической структуры ab initio функции, такие как индицирование, определение структуры и уточнение структуры методом Ритвельда. Теперь в пакете PDXL доступен "Мастер для Анализа структуры", который поможет вам провести сложный структурный анализ, в частности органических соединений. Этот мастер позволяет даже начинающему пользователю успешно выполнять анализ.

Функция группирования

Функция кластеризации в пакете PDXL может сгруппировать многочисленные данные, полученные в ходе эксперимента на основе сходства дифракционных картин порошковых материалов и положений пиков, и показать сгруппированые данные в виде удобного для чтения дерева. Это особенно эффективно, когда речь идет о классификации и сортировке данных из большого количества сканирований.

  • Качественный фазовый анализ с пакетом PDF-2 и Открытой кристаллографической базой данных (COD)
  • Количественный фазовый анализ
  • Определение степени кристалличности
  • Определение размеров кристаллитов и степени искажений кристаллической решетки
  • Уточнение параметра решетки
  • Остаточные искажения кристаллической решетки
  • Индицирование
  • Полнопрофильный анализ
  • Расшифровка кристаллической структуры Ab initio с мастером


Продукт(ы):

(Удерживайте CTRL клавишу
в нажатом состоянии,
чтобы выбрать продукт)

Имя и Фамилия:
Организация:
E-mail:
Телефон: Код:
Адрес:
Город:
Область/Район:
Почтовый индекс:
Страна :
Дополнительные комментарии
(URL-адреса не разрешены)