Многоцелевой рентгеновский дифрактометр

Многоцелевой рентгеновский дифрактометр

Ultima IV

Ultima IV представляет собой передовой многоцелевой рентгеновский дифрактометр. Внедрение CBO оптики, запатентованной компанией, на постоянной основе, надолго выровненной и с выбираемыми пользователем геометриями (параллельнного пучка или фокусирующей) - все это позволяет выполнять множество различных измерений ... быстро.

Эффективность

Эффективность с многоцелевым дифрактометром оценивается не только по быстроте проведения эксперимента, но и по быстроте переключения между различными видами экспериментов. Отдельные эксперименты оптимизируются с приспособлением наподобие высокоскоростного линейного однокоординатного детектора с высоким разрешением D/teX Ultra, но скорость между экспериментами значительно улучшается при комбинировании автоматической юстировки и СВО оптики.
Возможности
Ultima IV – единственный на рынке дифрактометр с полностью автоматической юстировкой всей системы. Благодаря возможности автоматической юстировки системы в сочетании с СВО оптикой и in-plane геометрией этот дифрактометр является наиболее гибкой системой доступной для широкого круга прикладных задач.
Переопределение функциональности
СВО оптика позволяет исключить временные затраты при переходе от одной геометрии к другой, допускает ежедневное использование обоих геометрий без необходимости перенастройки системы, не подвержена износу и выходу из строя в результате многочисленных переключений. СВО оптика и автоматическая юстировка скомбирнированные вместе предоставляют максимальную функциональность для задач: порошковой дифрактометрии, дифрактометрии тонких пленок, малоуглового рассеяния, и in-plane рассеяния.
Ask for more info

Features:

  • Полностью автоматическая юстировка, управляемая компютером.
  • Привод для сканирования в плоскости образца для in-plane измерений без перенастройки системы (опция).
  • Фокусирующая геометрия и геометрия параллельного пучка без перенастройки системы.
  • Возможность малоуглового рассеяния.
  • D/teX Ultra высокоскоростной линейный однокоординатный детектор с высоким разрешением (опция).

Ultima IV specifications

Источник излучения Максимальная мощность 3 kВт
Напряжение на трубке 20 - 60 kВ
Ток трубки 2 - 60 mA
Материал анода Cu (другие: опция)
Размер фокуса 0.4 x 12 мм (другие: опция)
Гониометр Метод сканирования θs/θd связанные или θs, θd независимые
Радиус гониометра 285 мм
Диапазон углов сканирования 2θ от -3 до 162° (махимум)
Минимальный шаг 0.0001°
Оптическая система Щели на выходной пучок Фиксируемые или автоматически варьируемые
Щели на дифрагирующий пучок Фиксируемые или автоматически варьируемые
Приемные щели Фиксируемые или автоматически варьируемые
Юстировка оптической системы Автоматическая юстировка трубки по высоте, гониометра, оптики и детектора
Монохроматор Двухпозиционный графитовый кристалл-монохроматор Cu-излучения (другие: опция)
Детектор Детектор Сцинтилляционный счетчик (другие: опция)
Размеры В x Ш x Г 1600 x 1100 x 800 мм
Размер образца 1050 мм

Ultima IV accessories

Высокотемпературное приспособление HT 1500

Автоматически изменяющийся температурный держатель для in-situ измерений материалов при комнатной и повышенных температурах (до 1500 ° C). Приспособление может работать в воздухе, газе, вакууме или в атмосфере инертного газа, таких как гелий или азот. Образец назревается излучательно для уменьшения теплового градиента в образце. Автоматический z сдвиг внутри держателя обеспечивает точное позиционирование образца даже при наличии теплового расширения образца.

Приспособление для низкой и средней температуры

Автоматически изменяющийся температурный держатель для in-situ измерений материалов при низких или повышенных температурах (-180°C до 350°C). Держатель может работать в воздухе, газе, вакууме или в условиях охлаждения жидким азотом. Образец нагревается излучательно, для уменьшения теплового градиента в образце. Автоматический z сдвиг внутри держателя обеспечивает точное позиционирование образца даже при наличии теплового расширения образца.

Куполообразный нагревающий держатель для тонких пленок Anton Paar

Система предоставляет рабочую температуру от комнатной до 900°C. Допустимая атмосфера: вакуум, воздух, инертный газ.

Высокотемпературное приспособление Реактор X для реактивных газов

Реактор Х позволяет проводить измерения при высоких температурах (от комнатной температуры до 1000°C) в вакууме, инертном газе, реактивном газе или их смеси. Инфракрасное нагревание предоставляет возможность быстрого нагревания и охлаждения образцов и использование разнообразных держателей образца, т.е. подходящий материал для держателя образца может быть выбран согласно комбинации образца, газа и применяемой температуры.

Усовершенствованное приспособление для тонких пленок

Многофункциональное приспособление для точного юстирования тонких пленок. Полностью автоматическая юстировка позволяет легко установить в нужное положение образец для рефлектометрии, in-plane геометрии и текстурного анализа. Дизайн Rx/Ry используется для наиболее гибкого сканирования обратного пространства.

PDXL – это пакет программ с полным набором функций для обработки данных порошковой дифрактометрии. Модульная архитектура, расширенные функциональные возможности и дружественный направляющий интерфейс удовлетворят как опытных пользователей, так и новичков.

PDXL предоставляет возможность проведения различного анализа, например, автоматический качественный фазовый анализ, количественный фазовый анализ, определение размера кристаллитов, уточнение параметра решетки, уточнение структуры методом Ритфельда, расшифровку кристаллической структуры Ab initio и т.д.

Метод фундаментальных параметров


Форма пика в дифракционной картине, наблюдаемой при рентгенофазовом исследовании структуры порошковых материалов, имеет форму дельта-функции. На самом деле, форма пика изменяется в зависимости от условий измерения: распределение длин волн источника, оптические системы, используемые щели, размеры кристаллитов и степени искажений кристаллической решетки, и т. д. Экспериментальные профили отражений хорошо аппроксимируются эмпирическими функциями, такими как функции псевдо-Фойгта или Пирсона VII. Метод фундаментальных параметров позволяет рассчитать форму пика, используя свертку функций, отвечающих за инструментальный вклад и образец.

Качественный фазовый анализ с COD


Открытая кристаллографическая база данных (COD) является бесплатной общедоступной базой данных кристаллических структур изданной в Интернациональном объединении кристаллографии, Минералогического общества Америки и т.д. Пакет программ PDXL позволяет использовать одновременно базы данных ICDD/PDF-2 и COD, для проведения автоматического качественного фазового анализа. Дополнительное подключение библиотеки COD, расширяет ваши возможности, добавляя более 150 000 кристаллических структур к уже существующим возможностям пакета PDXL 2.
Пользовательский интерфейс для расшифровки структуры исходя из первый принципов (ab initio)

В последнее время появилось множество опубликованных примеров анализа кристаллической структуры ab initio, проведенного по дифракционным данным от порошковых материалов. Это обусловлено в первую очередь значительным улучшением скорости работы ПК и эффективностью алгоритмов, используемых для определения структуры.

До настоящего времени, пакет программ PDXL предоставлял необходимые для анализа кристаллической структуры ab initio функции, такие как индицирование, определение структуры и уточнение структуры методом Ритвельда. Теперь в пакете PDXL доступен "Мастер для Анализа структуры", который поможет вам провести сложный структурный анализ, в частности органических соединений. Этот мастер позволяет даже начинающему пользователю успешно выполнять анализ.

Функция группирования

Функция кластеризации в пакете PDXL может сгруппировать многочисленные данные, полученные в ходе эксперимента на основе сходства дифракционных картин порошковых материалов и положений пиков, и показать сгруппированые данные в виде удобного для чтения дерева. Это особенно эффективно, когда речь идет о классификации и сортировке данных из большого количества сканирований.

  • Качественный фазовый анализ с пакетом PDF-2 и Открытой кристаллографической базой данных (COD)
  • Количественный фазовый анализ
  • Определение степени кристалличности
  • Определение размеров кристаллитов и степени искажений кристаллической решетки
  • Уточнение параметра решетки
  • Остаточные искажения кристаллической решетки
  • Индицирование
  • Полнопрофильный анализ
  • Расшифровка кристаллической структуры Ab initio с мастером


Продукт(ы):

(Удерживайте CTRL клавишу
в нажатом состоянии,
чтобы выбрать продукт)

Имя и Фамилия:
Организация:
E-mail:
Телефон: Код:
Адрес:
Город:
Область/Район:
Почтовый индекс:
Страна :
Дополнительные комментарии
(URL-адреса не разрешены)