Ni-Mn-Ga материалы: дифрактометрия в геометрии скользящего падения пучка (GIXRD) и рентгеновская рефлектометрия (XRR)

Ni-Mn-Ga материалы привлекают все больше внимания в связи с их большими напряжениями, индуцированными магнитным полем и потенциальными применениями в датчиках и исполнительных механизмах.

Сочетание GIXRD (рис. 1) и XRR (рис. 2) анализов был проведено на многофункциональной дифракционной системе Ultima IV от Ригаку на одном из таких материалов. Такое комбинированное исследование не только показывает состав и структуру этой Ni-Mn-Ga пленки, но также предоставляет полезную информацию о толщине слоя, плотности и шероховатости. Полученаая информация в дальнейшем используется, чтобы регулировать эти материалы.

GIXRD
Рисунок 1

XRR
Рисунок 2



Ultima IV представляет собой передовой многоцелевой рентгеновский дифрактометр. Внедрение CBO оптики, запатентованной компанией, на постоянной основе, надолго выровненной и с выбираемыми пользователем геометриями (параллельнного пучка или фокусирующей) - все это позволяет выполнять множество различных измерений ... быстро. Read more...