Малоугловое рассеяние рентгеновского излучения наноматериалов

На рисунке 1 показан профиль малоуглового рассеяния (SAXS) наноматериала, основанного на C3H6)n - α –полипропилене, снятый на Ultima IV. Этот класс наноматериалов имеет различные приложения, включая использование в высокопрочных волокнах для легких композиционных материалов и в качестве огнезащитных материалов.

Small Angle X-ray Scattering (SAXS) profile
Рисунок 1

Наблюдаемый профиль может быть восстановлен как свертка профиля рассеяния наноструктурной модели и инструментальной функции (синяя кривая на рис 2).

a convolution of the scattering profile
Рисунок 2

TA фитирование нелинейным методом наименьших квадратов исходных данных расчетного профиля от структурной модели, используя программное обеспечение NANO-Solver, предоставляет информацию о распределении размера и формы частиц / пор, как указано ниже.

information about the size distribution and shape of the particles/pores
Рисунок 3



Ultima IV представляет собой передовой многоцелевой рентгеновский дифрактометр. Внедрение CBO оптики, запатентованной компанией, на постоянной основе, надолго выровненной и с выбираемыми пользователем геометриями (параллельнного пучка или фокусирующей) - все это позволяет выполнять множество различных измерений ... быстро. Read more...