Измерения порошкообразных образцов с высокой интенсивностью и высоким разрешением

Традиционная порошковая дифрактометрия использует Брэгг-Брентано фокусирующую геометрию, для обеспечения высокой интенсивности и высокого разрешения при анализе порошкообразных образцов. Для многих объемных образцов с неровной поверхностью предпочтительнее использовать параллельный пучок. Благодаря СВО оптике, переход от фокусирующей геометрии к геометрии параллельного пучка осуществляется без перенастройки дифрактометра.

Области применения порошковой дифрактометрии:

Идентификация фаз

Размер кристаллитов / анализ напряжений

Количественный анализ

Точное определение параметров решетки

Степень кристалличности

Уточнение структуры материала методом Ритвельда

Точный количественный анализ методом Ритвельда, используя систему Ultima IV, демонстрирует современный подход к решению таких задач. В примере, приведенном ниже, используется фокусирующая геометрия для получения дифракционной картины высокого разрешения от хорошо подготовленной трехфазной смеси ZnO, MgO и Al₂O₃.


Даже в неблагоприятных условиях, когда качество поверхности образца является плохим, точные измерения могут быть проведены в геометрии параллельного пучка. В следующем примере образец с крупными размерами кристаллитов, полученный методом фотокатализа, не вызвал никаких проблем при сборе данных на Ultima IV в конфигурации с CBO оптикой.


Использование XYZ подвижного столика и оптической CCD камеры позволяет снимать дифрактограммы в различных точках на поверхности образца. В приведенном примере демонстрируется возможность настройки на различные локальные области печатной платы и получение дифрактограмм в этих точках с использованием геометрии параллельного пучка, формируемого с помощью СВО оптики.