Волнодисперсионный рентгеновский флуоресцентный спектрометр с верхним расположением трубки

Высокоэффективный ВДРФ спектрометр для быстрого количественного анализа элементов

ZSX Primus II

ZSX Primus II от Ригаку предоставляет возможность быстрого количественного определения основных и второстепенных элементов, от Бериллия (Be) до урана (U) в широком спектре образцов – с минимальными стандартами.

Расположение оптической системы наверху для высокой надежности

Новый ZSX Primus II прибор является инновационной конфигурацией с расположением оптической системы наверху. Это позволяет не тревожиться о загрязнении лучевого канала или о простоях, вызванных техническим обслуживанием камеры для образца. Геометрия с расположением оптической системы наверху устраняет проблемы с поддержанием чистоты и увеличивает эффективное время работы прибора.

Эффективность анализа легких элементов с картографированием и мульти-точечный анализ

Превосходные технические характеристики и универсальность спектрометра ZSX Primus позволяют анализировать наиболее сложные образцы. 30 микронная трубка - самая тонкая из доступных в промышленности рентгеновская трубка с торцевым окном, гарантирует простую и ясную характеризацию легких элементов. В сочетании с сверхсовременным комплексом картографирования для определения однородности и включений, ZSX Primus позволяет легко проводить детальное исследование образцов. Прибор предоставляет аналитическую способность проникать внутрь, что не так легко получить используя другие аналитические методики. Наличие мульти-точечного анализа также помогает устранить ошибки выборки в неоднородных материалах.

SQX фундаментальные параметры с EZ-сканирующим пакетом

EZ-сканирование позволяет пользователям анализировать неизвестные образцы без каких-либо предварительных настроек. Эта сохраняющая время функция требует всего несколько щелчков мыши и ввести имя образца. В сочетании с программным обеспечением SQX методом фундаментальных параметров, она предоставляет самые точные и быстрые результаты рентгенофлуоресцентного анализа. SQX может автоматически корректировать все матричные эффекты, в том числе линии перекрытия. В пакете доступна поправка на эффект вторичного возбуждения фотоэлектронами (легкие и ультра-легкие элементы), различные атмосферы, примеси и различные размеры образцов. Увеличение точности достигается с помощью библиотеки соответствия и программ анализа правильных сканов.

ZSX Primus II
Ask for more info

Features

  • Анализ элементов от Be до U.
  • Верхнее расположение рентгеновской трубки минимизирует загрязнение
  • Компактность прибора: для установки прибора не требуется много лабораторного места.
  • Микроанализ: анализ образцов размером от 500 мкм.
  • 30 микронная трубка: предоставляет эффективность анализа легких элементов.
  • Картографирование: визуализация топографии и распределения элементов.
  • Гелиевый затвор: камера с образцом всегда находится под вакуумом.

ZSX Primus II specifications

General
  Elemental coverage ₄Be through ₉₂U
  Optics Wavelength dispersive, sequential, tube above
X-ray generator
  X-ray tube End window, Rh-anode, 3kW or 4 kW, 60kV
  HV power supply High frequency inverter, ultra-high stability
  Cooling Internal water-to-water heat exchanger
Spectrometer
  Sample changer 48 positions standard, 96 optional
  Sample inlet APC automatic pressure controller
  Maximum sample size 51 mm (diameter) by 30 mm (high)
  Sample rotation speed 30 rpm
  Primary X-ray filters Al25, Al125, Ni40 and Ni400
  Beam collimators 6 auto-selectable diameters: 35, 30, 20, 10, 1 and 0.5 mm
  Divergence slit 3 auto-selectable: standard, high, and coarse (optional) resolutions
  Receiving slit For SC and for F-PC detectors
  Goniometer θ – 2θ independent drive mechanism
  Angular range SC: 5-118°, F-PC: 13-148°
  Angular reproducibility Ultra-high precision
  Continuous scan 0.1 - 240°/min
  Crystal changer 10 crystals, automatic mechanism
  Vacuum system 2 pump high-speed system w/ (optional) powder trap
  He flush system Optional, with partition
Detector systems
  Heavy element detector Scintillation counter (SC)
  Light element detector Flow proportional counter (F-PC)
  Attenuator In-out automatic exchanger (1/10)
If you are unable to view this video, click here to download it (315 MB).

ZSX Primus II software

Overview:

  • Qualitative analysis:
    • Automatic peak identification
    • Smoothing, background subtraction
  • Quantitative analysis:
    • Matrix correction: Lachance-Traill, DeJohngh, JIS, etc.
    • Linear, quadratic and cubic regression, multiple line
    • Fundamental parameter method
  • EZ scan (qualitative)
  • Application template
  • Analysis area automatic selection (mask size detection)
  • Peak deconvolution (function and standard profile)
  • Background fitting (multi-point function fitting, area designation)
  • Fixed precision analysis
  • Help function
  • E-mail forwarding function
  • Universal standard sample
  • Analysis simulation program (analysis depth evaluation, etc.)

Optional:

  • SQX program
    • EZ scan (SQX)
    • Fixed angle measurement
    • Thin-film analysis
    • Theoretical overlap correction
    • Drift correction library
    • Photoelectron FP method
    • He atmosphere correction
    • Sample film correction
      • Impurity correction
      • Matching library
      • SQX scatter FP method
      • Material judgment
  • Quantitative scatter FP method
  • Quantitative FP theoretical overlap correction
  • Fusion disk correction (flux evaporation)
  • Charge correction
  • Program operation
    • Time preset analysis
    • Energy saving
    • Auto power off
  • Sample observation mechanism
  • Point/mapping function
  • Remote control function (VCP)
Продукт(ы):

(Удерживайте CTRL клавишу
в нажатом состоянии,
чтобы выбрать продукт)

Имя и Фамилия:
Организация:
E-mail:
Телефон: Код:
Адрес:
Город:
Область/Район:
Почтовый индекс:
Страна :
Дополнительные комментарии
(URL-адреса не разрешены)