Masaüstü X-ışını difraksiyon (XRD) cihazı

Polikristalin materyallerde kalitatif ve kantitatif analiz

MiniFlex

2012, masaüstü X-ışını difraksiyonu analiz cihazları Miniflex serisi için yeni gelişmeleri müjdeliyor. Yeni 5. kuşak Miniflex polikristal materyallerde kalitatif ve kantitatif analiz gerçekleştirebilen genel kullanımlı bir X-ışını difraksiyon (XRD) cihazı. Miniflex için şimdi iki farklı model mevcut. 600 watt (X-ışın tüpü) güçle çalışan Miniflex 600 diğer masaüstü modellerin iki katı kadar güçlü olması sayesinde daha hızlı analizi ve daha iyi sonuçlar almayı olanaklı kılıyor. 300 watt (X-ışın tüpü) güçle çalışan yeni Miniflex 300 ise harici bir soğutucuya gerek duymuyor. Her iki model de masaüstü cihazlarda maksimum esnekliği sağlamak üzere tasarlandı.

Bugünün hızlı XRD analiz ihtiyacını karşılamak için idealleştirilmiş 5. jenerasyon Miniflex, yeni 600W X-ışını kaynağı ve opsiyonel D/tex yüksek hızlı dedektör gibi devrim niteliğindeki teknolojik ekipmanları sayesinde daha yüksek hız ve duyarlılık sağlıyor. Opsiyonel grafit monokromatör, standart sintilasyon sayıcı ile birleşerek sinyal-gürültü oranını optimize ederek, hassasiyeti en üst seviyeye getiriyor. Çözünürlüğün ön planda olduğu durumda, istenilen çözünürlüğü elde etmek için gelen ve kırınıma uğramış ışın yarıkları arasında seçim yapma şansı tanıyor. Ayrıca Miniflex numunelerle yüksek verimlilikle çalışmak için numune değiştiriciye sahip olan tek masaüstü XRD sistemi. Bir üniversitede, X-ışını difraksiyonu dersinde veya endüstride rutin kalite güvenliği testlerinde kullanılan Miniflex, kullanıcıya uygun fiyatlarla, iyi performans elde etme olanağını sunuyor.

Her Miniflex standart olarak, Rigaku'nun tam fonksiyonlu toz difraksiyon analiz programı PDXL'in en son sürümü ile birlikte geliyor. Bu son sürüm, daha doğru tepe tayini yapmak için fundamental parameter yöntemi (FP), sıfırdan kristal yapısı tayini için bir sihirbaz ve faz tanımlama için Crystallography Open Database (COD) gibi önemli işlevsel özelliklere sahip.

1973 yılında piyasaya sunulan orijinal Miniflex, yeni başlayan bir kullanıcının bile kompakt bir XRD cihazı ile bir uzman kadar iyi analiz yapabilmesini sağlamak için tasarlanmıştı. Yeni Miniflex, onu popüler yapan bu karakteristik tasarımın temelleri üzerine yapılandırıldı. Küçük ebatları ve güçlü tasarımı sayesinde kurulum için çok az bir yere ihtiyaç duyuyor, kullanımı kolay ve büyük fiyat avantajına sahip.

Ask for more info

Özellikler:

  • 2012 için yeni 5. kuşak tasarım
  • Kompakt, tam güvenli radyasyon koruması
  • Gelen ışın değişken yarığı
  • Basit kurulum ve kullanımda kolaylık
  • Fabrikada ayarlanmış gonyometre sistemi
  • Dizüstü bilgisayarla kontrol edilebilme özelliği
Ölçümler:
  • Faz tanımlama
  • Faz ölçümü
  • Yüzde (%) kristallik
  • Kristalit boyutu ve gerinimi
  • Latis parametre düzeltmesi
  • Rietveld düzeltmesi
  • Moleküler yapı
Opsiyonlar:
  • 6-pozisyonlu otomatik numune tablası
  • Grafit monokromatör
  • Yüksek hızlı silikon şerit dedektörü
  • Havaya duyarlı numune tutucu
  • Taşıma sandığı

MiniFlex accessories

ASC-8 : automatic 8 position sample changer with spinner
Automatic 8-position sample changer is compact and rugged. Integrated spinning improves particle statistics in polycrystalline sample measurements. Fully automatic alignment. Programmable.
 
Sample holders
Various sample holder are available to meet the specific needs of particular applications.
 
Specimen rotation attachment
The sample rotation stage allows continuous rotation at variable
speed of the sample holder to improve particle statistics during
powder diffraction measurements.
 
Graphite monochromator for D/teX Ultra
The graphite monochromator optimizes sensitivity by lowering the background level. It improves signal-to-noise by eliminating fluorescence from Mn, Fe, Co, and Ni containing materials.
 
Air-sensitive sample holder
An enclosed sample holder is available for users studying materials that might degrade in the presence of oxygen.
 
D/teX Ultra high speed detector
This 1D silicon strip detector is optionally available for fast, high-resolution scanning.
 
BTS 500 high temperature attachment
The high temperature attachment can heat a sample to do in-situ powder diffraction measurements under high temperature conditions from ambient to 500°C.
 
HyPix-400 MF: 2D HPAD detector
Advanced hybrid array pixel detector (HPAD) with zero background noise, an active area of ​​400 mm2, spatial resolution of 100 μm, and maximum count rate of 106 cps/pixel or more. HyPix-400 can operate in 0D, 1D or 2D modes.

PDXL is a one-stop full-function powder diffraction analysis software suite. The modular design, advanced engine and user-friendly GUI have been satisfying both experienced and novice users since PDXL was released in 2007.

PDXL provides various analysis tools such as automatic phase identification, quantitative analysis, crystallite-size analysis, lattice constants refinement, Rietveld analysis, ab initio structure determination, etc.

Fundamental parameter method

The peak shape in a powder diffraction pattern would appear to be a delta function if measured under ideal conditions. In reality, the peak shape changes depending on a number of measurement conditions: wavelength distribution of the source, optical systems, slit conditions, crystallite size and strain, and so on. The peak shapes obtained from measurements made under real-world conditions are described using an empirical function such as a split pseudo-Voigt function, or a split Pearson VII function which has a good agreement with the obtained peak shapes. The fundamental parameter method (FP method) is a method to calculate peak shape by convolution of the shapes caused by all the instrumental and sample conditions.

Phase identification using COD

The Crystallography Open Database (COD) is a free, public-domain database of the crystal structures published in International Union of Crystallography, Mineralogical Society of America and so on. PDXL can incorporate both ICDD/PDF-2 and COD to perform automatic phase identification, adding the COD library of over 150,000 crystal structures to PDXL 2’s already substantial capabilities.
Wizard for ab initio crystal structure analysis
Recently, there have been many published examples of ab initio crystal structure analysis performed on powder diffraction data. This development is attributed primarily to significant improvements in PC processing speed and in the efficiency of the algorithms used for structure determination.

PDXL has so far provided all of the functions required for ab initio crystal structure analysis, such as indexing, structure determination and structure refinement by the Rietveld method. Now the “Structure Analysis Wizard” is available in PDXL to provide support and guidance for users undertaking the complicated procedure of structure analysis, particularly of organic compounds. This wizard system will make it possible for even the beginner to achieve analytical success

Clustering function
The PDXL clustering feature can group multiple scan data based on the similarity of powder diffraction patterns and peak positions, and displays the grouped data in an easy-to-read tree. This is particularly effective when it comes to classifying and screening the data from a large number of scans.

  • Search/Match analysis with PDF-2 and Crystallography Open Database
  • Quantitative analysis
  • Percent crystallinity
  • Crystallite size and strain
  • Cell refinement
  • Residual stress
  • Indexing
  • Whole pattern profile fitting
  • Ab initio structure solving with wizard


Ürün(ler):
(Birden fazla ürün
seçmek için CTRL
tuşuna basılı tutun)
İsim (Ad/Soyad):
Firma:
E-mail:
Tel: Dahili:
Adres:
Şehir:
Eyalet/İl/Bölge:
Posta kodu:
Ülke:
Yorumlar
(URL'lere izin
verilmemektedir
)