涂料

薄膜的厚度与组成

涂料

现代生活各个方面的便利都来源于涂料或薄膜技术。无论是集成电路片中的阻挡膜或是铝制饮料罐的转化涂层,X射线分析技术对于研发发展、生产过程控制和品质保障都是不可或缺的。X射线荧光(XRF)可以测量金属涂层的厚度和元素组成。通常作为一种计量工具应用于半导体制造过程。X射线反射率(XRR)用于测量涂料的多层膜的图层厚度,还可以表征其他涂料特性,例如粗糙度和中间层扩散。是纳米技术研究、X射线衍射(XRD)和相关技术领域的领先技术,用于检测薄膜的分子结构的性质。理学公司提供了多种非破坏性分析测量涂料和薄膜的分析方法。

Systems: 
NEX QC   NEX QC
低成本EDXRF元素分析仪测试元素范围从Na到U的固体、液体、粉末和薄膜样品
  NEX CG   NEX CG
高性能、解析几何EDXRF元素分析仪测试元素范围从Na到U的固体、液体、粉末和薄膜样品
  Mini-Z Series   Mini-Z Series
质量控制应用程序的下照射式WDXRF单个元素分析仪
MiniFlex   MiniFlex
用于物相分析和晶相的定量分析等常规目的的新型第6代台式XRD仪器
  Ultima IV   Ultima IV
用于应用程序从研发到质量管理的高性能多功能的XRD仪器
  SmartLab   SmartLab
通过系统指导软件(Guidance)运行的最新锐的高分辨率XRD仪器
Supermini   Supermini200
台式下照射式WDXRF光谱仪分析元素范围从F到U的固体、液体和粉末样品
  ZSX Primus   ZSX Primus
高功率、下照射式、具有Mapping分析和超轻元素性能的连续WDXRF光谱仪
  ZSX Primus II   ZSX Primus II
高功率、上照射式、具有Mapping分析和超轻元素性能的连续WDXRF光谱仪