纳米技术

XRD、XRR和SAXS表征纳米标度

纳米技术

纳米技术是唯一跨学科的技术,跨越了例如生物学、化学、物理学和工程学的广泛的研究领域。纳米技术的共同因素是结构研究的侧面尺寸。定义为在十亿分之一(10-9)米范围内的材料或组成部分,纳米技术研究和开发依赖于从半导体器件到纳米粉末结构内原子和分子距离的精确测量。由于X射线波长的尺寸与纳米结构尺寸相同,X射线衍射(XRD)和相关技术是纳米技术研究员使用的主要工具。X射线反射率(XRR)测定层厚度、粗糙度和密度。高分辨率X射线衍射可以测定层厚度、粗糙度、化学组成、格间距、宽松等。X射线散射用于测定侧面与横向的关系,畸变、密度和孔隙率。面内超低角入射衍射用于研究超薄的有机和无机层的相互关系以及深度方向分析。最后,小角散射(SAXS)可以测定固体或溶剂中纳米颗粒的尺寸、形状、分布、取向及其相关性。理学的技术和专业知识为纳米技术的应用提供了许多X射线衍射产品。

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