組成分析

XRFとXRD―元素と化合物の分析

蛍光X線(XRF)とX線回折(XRD)は、未知試料の組成を非破壊で調べる一般的な方法です。蛍光X線分析は、ホウ素(B)からウラン(U)まで、ppmレベルからパーセントレベルまでの元素分析ができます。ファンダメンタルパラメーター(FP)法を用いれば、標準試料なしで定量分析ができます。
X線回折では、試料に含まれる化合物の種類と、それが試料中で主要成分であるか・微量成分であるかを区別することができます。物質の鉱物名、化学式、結晶系、ICDD番号なども分かります。リートベルト法を用いれば、標準試料なしで定量的な情報も得られます。

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