半導体評価測定

材料開発から品質管理まで

半導体評価測定

リガクは、たえまなく進歩を続ける半導体プロセス技術に対応し、常に他に先駆け、他とは異なるものをつくりあげてきました。
薄膜構造評価装置、膜厚・組成分析装置、表面汚染分析装置……
その他数多くの製品は、研究開発、品質管理に信頼と安心をお届けしています。
リガクは、先進の技術力と豊かな経験をもとに、これからも半導体プロセスに対応する、新たなX線測定のソリューションを提案していきます。

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