EXPO2009を用いた直接法による粉末結晶構造解析

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従来、結晶構造解析は単結晶を用いることが一般的でした。しかし、結晶性の純物精製が難しい試料、また純物質の精製ができても結晶成長が難しい試料では単結晶による結晶構造解析は困難となります。近年では粉末X線回折装置の精度が著しく向上してきており、結晶性の純物質が得られれば、粉末試料からでも結晶構造解析を行うことが可能となりつつあります。ここでは粉末試料を測定し、得られた回折図形から構造解析を行った例を示します。


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