X線小角散乱法によるサブナノ金粒子の粒子径分布

X線小角散乱法を用いることにより、粉末や液体分散微粒子、薄膜中に分布する粒子や空孔のサイズ分布を評価できます。特に、TEM(透過電子顕微鏡:Transmission Electron Microscope)やDLS(動的光散乱法:Dynamic Light Scattering)等では評価困難なサブナノメータの粒子の平均サイズとその分布を評価することが可能です。今回は、有機溶媒に分散させた金ナノ粒子のサイズ分布の評価を行いました。


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