微小量試料の低バックグランド高速測定

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X線回折測定法では、結晶相に対する分析を行うことができるため、鉱物試料や金属材料、医薬品をはじめとした有機材料などの評価に広く使用されています。従来は測定および解析を行うために十分な試料量を必要としていましたが、高速1次元検出器を使用することで、短時間で高強度のX線回折パターンを得ることができるようになり、微小量試料でも短時間での分析が可能となりました。


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