EDXRF过程分析仪

在线实时元素分析

NEX OL

先进的第三代能量色散X射线荧光(EDXRF)技术,理学NEX OL代表液流和固定位置web或卷材应用的过程元素分析的下一个进化。 从重工业到食品级过程测量的跨度设计,NEX OL可配置用于安全和非安全级别区域。

分析范围从铝(13Al)到铀(92U)

为了实现优越的分析性能和可靠性,EDXRF测定磁头组件来源于已创建的理学NEX QC+高分辨率台式仪。通过这个已被证明的技术,理学NEX OL实现了快速、非破坏、多元素分析 – 从ppm级别到高重量百分比(wt%)浓度 – 用于从铝(13Al)到铀(92U)的元素范围。结合一个50kV的X射线管和SDD探测器 – 结合一个标准优化的管滤光片套件 – 理学NEX OL解决多种过程控制应用。

唯一的无工具的流动池设计

对于液流的元素分析,一个分析头结合一个唯一的无工具的流动池,包含X射线窗口。 X射线窗口含有液流但流到X射线,它通常为一个塑料膜。
涂层厚度与成分
除了分析液流,理学NEX OL通过测定多元素成分和/或涂层厚度的能力还用于web和卷材应用。通常安装头到滚筒上的一个固定位置,这样该头到表面的距离恒定。
NEX OL
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Features and benefits

  • 通过元素分析实时过程控制
  • 测定从铝(13Al)到铀(92U)的元素范围
  • 从ppm级别到重量百分比(wt%)浓度
  • Robust理学NEX QC+选购核心与SDD探测器
  • 工业触屏用户接口
  • 简单的经验校正与例行操作
  • 例行维修通常无需任何工具
  • 用于未分类区域的多个远程分析头
  • 无风险放射性同位元素

装备有一个50kV的X射线管和SDD探测器,结合一个标准、优化的管滤光片套件,理学NEX OL可以解决多种过程控制应用。其中大部分基本应用包括:


  • 聚乙烯/PET制造:TPA和PTA催化剂
  • 金属表面处理:电镀池、酸侵池和预先处理池
  • 采矿:溶剂萃取
  • 化合物:混合添加剂和树脂
  • 纸和塑料:释放/屏蔽涂料、阻燃、紫外稳定剂
  • 织物和非织物:阻燃、紫外稳定剂
  • 金属:转化涂层、其它表面涂层
  • Petroleum(石油):软化有添加剂和混合剂
  • 纸浆和纸:生产用水
  • 工业:废水

化学池的过程分析

测定化学池溶液,证明含有镍、钴、钼、锌和铟。

背景

电子工业中对铜箔制造的表面处理是一个重要工序。表面处理用来清洁铜箔,从而创造抗粗糙和抗热处理,并且制造单层或多层薄膜涂层从而防止铜箔被氧化或加强电化学性质。为了确保高质量的表面处理必须一直监控化学池。理学提供NEX OL分析仪来满足这些熔体成分趋势分析的分析需求。

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